B4860U - Оптическая плита Nexus, размеры: 48" x 60" x 4.3", отверстия: 1/4"-20 с нейлоновыми вставками, Thorlabs

Описание

B4860U — Исполнение с герметизированными отверстиями помогает снизить проникновение загрязнений и жидкостей во внутренний объем плиты, что особенно полезно в чистых или аккуратно организованных лабораториях. Большой формат делает модель удобной для распределенных по площади оптических схем.

Герметизированные резьбовые отверстия у серии U полезны там, где пользователь хочет защитить внутреннюю структуру плиты от пыли, жидкостей и частиц. Для больших оптических схем это важное преимущество, потому что установка может использоваться годами, а чистота и предсказуемость механической базы остаются на высоком уровне.

Для лаборатории это не просто плита с резьбовой сеткой, а базовая механическая платформа, на которой держится взаимное положение зеркал, держателей, линейных направляющих, лазерных источников и детекторов. Формат 48" x 60" и толщина 4.3" дают запас по несущей способности, а серия Nexus ориентирована на уменьшение паразитного отклика от внешних возмущений.

Для крупных лабораторных систем это ещё и вопрос долговечности: чем лучше защищена внутренняя структура плиты, тем легче поддерживать одинаковое состояние базы на всём сроке службы. Это особенно заметно в установках с интенсивной эксплуатацией и регулярной переналадкой.

Характеристики

• Артикул: B4860U.
• Серия Nexus.
• Размер 48" x 60".
• Толщина 4.3".
• Герметизированные отверстия 1/4"-20.
• Оптимизированное демпфирование.
• Герметизация отверстий помогает защищать внутренний объем плиты от загрязнений.

Отрасли применения

• Служит базой для лазерных стендов, интерферометров, микроскопических установок и других схем, где критично сохранять взаимное положение элементов во времени.
• Подходит для размещения тяжелых держателей, приводов, сканирующей механики и многоканальной оптики без заметной потери жёсткости.
• Используется в научных, учебных и прикладных лабораториях как основа для длительных экспериментов и для сборки переносимых между проектами модулей.
• Актуальна в метрологии, спектроскопии, фотонике и прецизионной сборке, где сама механическая база влияет на итоговое качество измерения.