SWIR камеры New Imaging Technologies для микроскопии

SWIR камеры HiPe SenS для микроскопии

Сигналы, поступающие от образца в микроскоп, как правило имеют довольно слабую интенсивность, поэтому для их регистрации требуются более длительные времена экспозиции и низкий уровень темнового тока.

Биомедицинская визуализация

SWIR камеры открывают новые возможности визуализации глубоких тканей для применения in-vivo. Обычно для визуализации глубоких тканей используется ионизирующее излучение (рентгеновские и гамма-лучи), но оно может представлять угрозу для биологических тканей. Для фотолюминесцентная визуализации предпочтительно использовать флуоресцентные красители и лазер.

Обычно использовались видимый и ближний ИК диапазоны:

• Видимый диапазон (400-650 нм) используется только для поверхностных тканей (сильное рассеяние и поглощение).
• Диапазон NIR или NIR1 (850-900 нм) использовался в течение последних 20 лет.

SWIR или NIR2 (1300-1400 нм) имеют следующие преимущества:

• Пропускание сильнее, чем у NIR диапазона
• Меньшее рассеяние
• Имеющиеся в продаже и одобренные FDA красители позволяют наблюдать сильную эмиссию излучение в диапазоне NIR2.

Пропускание биологической ткани в SWIR

Пример 1 использования SWIR камер в микроскопии

Визуализация кровеносных сосудов мышей in vivo с помощью камеры NIT SWIR

Пример 2 использования SWIR камеры для in vivo

Сравнение NIR и SWIR диапазона

• NIR1 (850-900 нм) и SWIR (1300-1400 нм) диапазон;
• Изображения, полученные с помощью SWIR, обеспечивают больший контраст, высокое качество изображения и подробную детализацию.
• Изображения получены с использованием лазера с длиной волны 785 нм.

SWIR камеры для промышленных применений

Поскольку пропускная способность в SWIR у полупроводников намного лучше, чем в видимом / ближнем ИК-диапазоне, SWIR визуализация и камеры линейного сканирования для данного диапазона волн могут применяться в следующих областях:

• Анализ кремниевых пластин / слитков
• Контроль качества пластин после резки слитков
• Проверка интегральных схем на кристалле после нарезки пластин
• МЭМС-контроль после упаковки
• Совмещение пластин
• Проверка OLED-пластин

Благодаря работе на длинах волн SWIR диапазона можно обнаружить примеси, дефекты, трещины. SWIR камеры позволяют проверить совмещение ИС и размеры пластин. Из-за увеличения количества ИС на кремниевых кристаллах, увеличения толщины пластин и появления нового упаковочного материала диапазон NIR считается устаревшим, а SWIR - предпочтительным.

Камеры SWIR диапазона от New Imaging Technologies предлагают привлекательное соотношение качества и цены, когда речь идет об упрощении интеграции для полупроводников / пластин / солнечных панелей. Диапазон SWIR Высокая чувствительность Малый шаг