SWIR камеры New Imaging Technologies для микроскопии
SWIR камеры HiPe SenS для микроскопии
Сигналы, поступающие от образца в микроскоп, как правило имеют довольно слабую интенсивность, поэтому для их регистрации требуются более длительные времена экспозиции и низкий уровень темнового тока.
|
|
Камеры HiPe SenS от New Imaging Technologies идеально соответствуют требованиям микроскопии:
|
Биомедицинская визуализация
SWIR камеры открывают новые возможности визуализации глубоких тканей для применения in-vivo. Обычно для визуализации глубоких тканей используется ионизирующее излучение (рентгеновские и гамма-лучи), но оно может представлять угрозу для биологических тканей. Для фотолюминесцентная визуализации предпочтительно использовать флуоресцентные красители и лазер.
Обычно использовались видимый и ближний ИК диапазоны:
- Видимый диапазон (400-650 нм) используется только для поверхностных тканей (сильное рассеяние и поглощение).
- Диапазон NIR или NIR1 (850-900 нм) использовался в течение последних 20 лет.
SWIR или NIR2 (1300-1400 нм) имеют следующие преимущества:
- Пропускание сильнее, чем у NIR диапазона
- Меньшее рассеяние
- Имеющиеся в продаже и одобренные FDA красители позволяют наблюдать сильную эмиссию излучение в диапазоне NIR2.
Пропускание биологической ткани в SWIR
Пример 1 использования SWIR камер в микроскопии
Визуализация кровеносных сосудов мышей in vivo с помощью камеры NIT SWIR
|
|
|
|
|
Пример 2 использования SWIR камеры для in vivo
Сравнение NIR и SWIR диапазона
- NIR1 (850-900 нм) и SWIR (1300-1400 нм) диапазон;
- Изображения, полученные с помощью SWIR, обеспечивают больший контраст, высокое качество изображения и подробную детализацию.
- Изображения получены с использованием лазера с длиной волны 785 нм.
SWIR камеры для промышленных применений
Поскольку пропускная способность в SWIR у полупроводников намного лучше, чем в видимом / ближнем ИК-диапазоне, SWIR визуализация и камеры линейного сканирования для данного диапазона волн могут применяться в следующих областях:
- Анализ кремниевых пластин / слитков
- Контроль качества пластин после резки слитков
- Проверка интегральных схем на кристалле после нарезки пластин
- МЭМС-контроль после упаковки
- Совмещение пластин
- Проверка OLED-пластин
Благодаря работе на длинах волн SWIR диапазона можно обнаружить примеси, дефекты, трещины. SWIR камеры позволяют проверить совмещение ИС и размеры пластин. Из-за увеличения количества ИС на кремниевых кристаллах, увеличения толщины пластин и появления нового упаковочного материала диапазон NIR считается устаревшим, а SWIR - предпочтительным.
|
Камеры SWIR диапазона от New Imaging Technologies предлагают привлекательное соотношение качества и цены, когда речь идет об упрощении интеграции для полупроводников / пластин / солнечных панелей.
|
|
|
|
|
