Азимут Фотоникс
Интернет-магазин представительского класса
Каталог
Детекторы излучения
Лазеры и лазерные системы
Лазерные диоды и модули
Камеры и объективы
Контрольно-измерительное оборудование
Источники света
Волоконная оптика
Оптика
Оптомеханика
Обучающие наборы
Программное обеспечение
Микроскопы
Каталог Thorlabs
Визуализация
Системы позиционирования
Оптика
Волоконная оптика
Источники излучения
Анализаторы излучения
Оптические системы
Оптомеханика
Каталог Hamamatsu
Каталог Edmund Optics
Оптика
Лазерная оптика
Микроскопия
Лазеры
Объективы
Камеры
Системы освещения
Тест-объекты
Контрольно-измерительные приборы
Лабораторное оборудование и расходные материалы
Новая продукция
Спецпредложения
Ресерцифицируемые продукты
Оптомеханика
Поставщики
Новости
Статьи
Выставки
Видео
Вебинары и презентации
Демонстрации работы
Каталог Edmund Optics
Каталог Thorlabs
Оптомеханика 3DOptix
ПО 3DOptix
Вакансии
Контакты
О компании
8 (800) 551-20-97
8 (800) 551-20-97Москва
+7 (812) 407-10-47Санкт-Петербург
Заказать звонок
Задать вопрос
Войти
  • Корзина0
  • Отложенные0
Ваш город
Москва
Москва
Алма-Ата
Астана
Великий Новгород
Владивосток
Воронеж
Дубна
Екатеринбург
Ижевск
Иркутск
Казань
Калининград
Краснодар
Красноярск
Минск
Нижний Новгород
Новосибирск
Омск
Пермь
Ростов-на-Дону
Самара
Санкт-Петербург
Саров
Тверь
Томск
Тюмень
Уфа
Челябинск
Черноголовка
info@azimp.ru
Москва, ул. Шаболовка, д. 10,корп.1 помещ. 7/1 (м. Шаболовская)
  • О компании
  • Услуги
  • Новости
  • Статьи
  • Выставки
  • Видео
  • Вакансии
  • Контакты
  • Условия сотрудничества
  • ...
    8 (800) 551-20-97
    8 (800) 551-20-97Москва
    +7 (812) 407-10-47Санкт-Петербург
    Заказать звонок
    ru
    en
    ru
    Войти
    Азимут Фотоникс
    Ваш город
    Москва
    Москва
    Алма-Ата
    Астана
    Великий Новгород
    Владивосток
    Воронеж
    Дубна
    Екатеринбург
    Ижевск
    Иркутск
    Казань
    Калининград
    Краснодар
    Красноярск
    Минск
    Нижний Новгород
    Новосибирск
    Омск
    Пермь
    Ростов-на-Дону
    Самара
    Санкт-Петербург
    Саров
    Тверь
    Томск
    Тюмень
    Уфа
    Челябинск
    Черноголовка
    Каталог
    • Детекторы излучения
      Детекторы излучения
    • Лазеры и лазерные системы
      Лазеры и лазерные системы
    • Лазерные диоды и модули
      Лазерные диоды и модули
    • Камеры и объективы
      Камеры и объективы
    • Контрольно-измерительное оборудование
      Контрольно-измерительное оборудование
    • Источники света
      Источники света
    • Волоконная оптика
      Волоконная оптика
    • Оптика
      Оптика
    • Оптомеханика
      Оптомеханика
    • Обучающие наборы
      Обучающие наборы
    • Программное обеспечение
      Программное обеспечение
    • Микроскопы
      Микроскопы
    Каталог Thorlabs
    • Визуализация
      Визуализация
    • Системы позиционирования
      Системы позиционирования
    • Оптика
      Оптика
    • Волоконная оптика
      Волоконная оптика
    • Источники излучения
      Источники излучения
    • Анализаторы излучения
      Анализаторы излучения
    • Оптические системы
      Оптические системы
    • Оптомеханика
      Оптомеханика
    Каталог Hamamatsu
    Каталог Edmund Optics
    • Оптика
      Оптика
    • Лазерная оптика
      Лазерная оптика
    • Микроскопия
      Микроскопия
    • Лазеры
      Лазеры
    • Объективы
      Объективы
    • Камеры
      Камеры
    • Системы освещения
      Системы освещения
    • Тест-объекты
      Тест-объекты
    • Контрольно-измерительные приборы
      Контрольно-измерительные приборы
    • Лабораторное оборудование и расходные материалы
      Лабораторное оборудование и расходные материалы
    • Новая продукция
      Новая продукция
    • Спецпредложения
      Спецпредложения
    • Ресерцифицируемые продукты
      Ресерцифицируемые продукты
    • Оптомеханика
      Оптомеханика
    Поставщики
    Проекты
    • Спектроскопия
    +  ЕЩЕ
      Азимут Фотоникс
      Каталог
      • Детекторы излучения
        Детекторы излучения
      • Лазеры и лазерные системы
        Лазеры и лазерные системы
      • Лазерные диоды и модули
        Лазерные диоды и модули
      • Камеры и объективы
        Камеры и объективы
      • Контрольно-измерительное оборудование
        Контрольно-измерительное оборудование
      • Источники света
        Источники света
      • Волоконная оптика
        Волоконная оптика
      • Оптика
        Оптика
      • Оптомеханика
        Оптомеханика
      • Обучающие наборы
        Обучающие наборы
      • Программное обеспечение
        Программное обеспечение
      • Микроскопы
        Микроскопы
      Каталог Thorlabs
      • Визуализация
        Визуализация
      • Системы позиционирования
        Системы позиционирования
      • Оптика
        Оптика
      • Волоконная оптика
        Волоконная оптика
      • Источники излучения
        Источники излучения
      • Анализаторы излучения
        Анализаторы излучения
      • Оптические системы
        Оптические системы
      • Оптомеханика
        Оптомеханика
      Каталог Hamamatsu
      Каталог Edmund Optics
      • Оптика
        Оптика
      • Лазерная оптика
        Лазерная оптика
      • Микроскопия
        Микроскопия
      • Лазеры
        Лазеры
      • Объективы
        Объективы
      • Камеры
        Камеры
      • Системы освещения
        Системы освещения
      • Тест-объекты
        Тест-объекты
      • Контрольно-измерительные приборы
        Контрольно-измерительные приборы
      • Лабораторное оборудование и расходные материалы
        Лабораторное оборудование и расходные материалы
      • Новая продукция
        Новая продукция
      • Спецпредложения
        Спецпредложения
      • Ресерцифицируемые продукты
        Ресерцифицируемые продукты
      • Оптомеханика
        Оптомеханика
      Поставщики
      Новости
      Статьи
      Выставки
      Видео
      • Вебинары и презентации
      • Демонстрации работы
      • Каталог Edmund Optics
      • Каталог Thorlabs
      • Оптомеханика 3DOptix
      • ПО 3DOptix
      Вакансии
      Контакты
      О компании
      +  ЕЩЕ
        ru
        en
        ru
        Азимут Фотоникс
        Телефоны
        8 (800) 551-20-97
        +7 (812) 407-10-47Санкт-Петербург
        Заказать звонок
        • Каталог
          • Назад
          • Каталог
          • Детекторы излучения
          • Лазеры и лазерные системы
          • Лазерные диоды и модули
          • Камеры и объективы
          • Контрольно-измерительное оборудование
          • Источники света
          • Волоконная оптика
          • Оптика
          • Оптомеханика
          • Обучающие наборы
          • Программное обеспечение
          • Микроскопы
        • Каталог Thorlabs
          • Назад
          • Каталог Thorlabs
          • Визуализация
          • Системы позиционирования
          • Оптика
          • Волоконная оптика
          • Источники излучения
          • Анализаторы излучения
          • Оптические системы
          • Оптомеханика
        • Каталог Hamamatsu
        • Каталог Edmund Optics
          • Назад
          • Каталог Edmund Optics
          • Оптика
          • Лазерная оптика
          • Микроскопия
          • Лазеры
          • Объективы
          • Камеры
          • Системы освещения
          • Тест-объекты
          • Контрольно-измерительные приборы
          • Лабораторное оборудование и расходные материалы
          • Новая продукция
          • Спецпредложения
          • Ресерцифицируемые продукты
          • Оптомеханика
        • Поставщики
        • Новости
        • Статьи
        • Выставки
        • Видео
          • Назад
          • Видео
          • Вебинары и презентации
          • Демонстрации работы
          • Каталог Edmund Optics
          • Каталог Thorlabs
          • Оптомеханика 3DOptix
          • ПО 3DOptix
        • Вакансии
        • Контакты
        • О компании
        • Москва
          • Назад
            • Москва
            • Алма-Ата
            • Астана
            • Великий Новгород
            • Владивосток
            • Воронеж
            • Дубна
            • Екатеринбург
            • Ижевск
            • Иркутск
            • Казань
            • Калининград
            • Краснодар
            • Красноярск
            • Минск
            • Нижний Новгород
            • Новосибирск
            • Омск
            • Пермь
            • Ростов-на-Дону
            • Самара
            • Санкт-Петербург
            • Саров
            • Тверь
            • Томск
            • Тюмень
            • Уфа
            • Челябинск
            • Черноголовка
        • Ru
          • Назад
          • Язык
          • Ru
          • En
        • 8 (800) 551-20-97Москва
          • Назад
          • Телефоны
          • 8 (800) 551-20-97Москва
          • +7 (812) 407-10-47Санкт-Петербург
          • Заказать звонок
        Контактная информация
        Москва, ул. Шаболовка, д. 10,корп.1 помещ. 7/1 (м. Шаболовская)
        info@azimp.ru

        Сканирующая FLIM система PZ FLIM-110

        Главная
        —
        Каталог продукции
        —
        Микроскопы
        —
        Оптические световые микроскопы
        —
        Флуоресцентные микроскопы
        —Сканирующая FLIM система PZ FLIM-110
        Фото Сканирующая FLIM система PZ FLIM-110
        Производитель: Becker&Hickl
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        • Технические характеристики
        • Описание
        • Файлы для скачивания
        • Оплата
        • Доставка
        • Гарантия
        Поставщик
        Becker&Hickl
        Типы изделий
        сканирующие
        Тип прибора
        FLIM системы
        Применение
        для счета фотонов
        Тип детектора счета фотонов
        FLIM наборы
        Вид детектора
        многоволновые

        Сканирующая TCSPC FLIM система PZ‑FLIM-110 от компании Becker&Hickl использует многомерную технику коррелированного по времени счета единичных фотонов (TCSPC – time correlated single photon counting) в сочетании c пьезосканером от компании Mad City Labs. Пьезоэлектрический сканер управляется с помощью платы управления GVD-120, и FLIM данные записываются TCSPC платой SPC-150 или SPC-160. Как сканирование, так и опрос данных осуществляется с помощью 64-битного программного обеспечения SPCM TCSPC компании Becker&Hickl. Система может работать в режиме горизонтального XY сканирования, вертикального XZ сканирования, а также одновременно записывать FLIM и PLIM данные. Сканирующая TCSPC FLIM система PZ‑FLIM-110 способна сканировать изображения с разрешением до 2048х2048 пикселей и записывать данные кривой распада в 256 временных каналов на пиксель. При разрешении 512х512 кривые распада могут быть записаны в 4096 временных каналов. FLIM данные полученные таким образом имеют отличное пространственное и временное разрешение. Время сканирования для изображения с разрешением 512х512 пикселей составляет примерно от 100 до 300 секунд, время сканирования для разрешения 2048х2048 пикселей может занимать 6 минут и более. Это означает, что время измерения, как правило, определяется скоростью самого пьезосканера, а не временем необходимым для регистрации достаточного количества фотонов. Если медленная скорость сканирования устраивает заказчика, тогда сканирующая TCSPC FLIM система PZ‑FLIM-110 от компании Becker&Hickl является экономически эффективной альтернативой сканирующим системам на основе гальванометра.

        Особенности:

        - многомерный TCSPC метод;

        - простое сканирование осуществляемое пьезосканером;

        - компактная электроника, управляемая ноутбуком;

        - полностью интегрированное управление сканированием;

        - полностью конфокальный детекторный канал;

        - подавление расфокусированного света;

        - подавление бокового рассеивания;

        - превосходный контраст и разрешение;

        - возбуждение длины волны пикосекундными лазерами;

        - доступные длины волн излучения 375 нм, 405 нм, 445 нм, 473 нм, 488 нм, 515 нм, 640 нм, 685 нм, 785 нм;

        - совместимость с титан-сапфировыми лазерами;

        - 64-битное программное обеспечение SPCM для Windows 7, 8, 10.

        Компоненты сканирующей TCSPC FLIM системы PZ‑FLIM-110 с пьезосканером:

        Составляющая часть системы

        Описание

        Сканирование: Mad City Labs Nano-View 200-3 1)

        Оптический принцип

        сканирование образца с помощью пьезосканера, конфокальная регистрация

        Лазерный вход

        одномодовое оптоволокно, система соединения волокна от Qioptiq

        Выход для детектора

        опотоволоконное соединение, FC разъем, многомодовое волокно

        Основной светоделитель

        дихроическое зеркало

        Соединение с микроскопом

        адаптер к порту с левой стороны

        Контроллер для сканирования: GVD-120 от Becker&Hickl

        Принцип

        генерация цифрового сигнала, форма сигнала сканирования задается аппаратной частью

        Форма сигнала сканирования

        генератор линейной функции с циклоидным обратным ходом луча, параметры конфигурируются для различных сканеров

        Формат сканирования

        линия, кадр или одна точка

        Размер кадра, скан кадра

        от 16х16 до 2048х2048 пикселей

        Сканирование линии

        от 16 до 2048 пикселей

        X сканирование

        непрерывное сканирование или пиксель за пикселем

        Y сканирование

        линия за линией

        Управление мощностью лазера, электрическое

        через электрический сигнал лазерам

        Лазерное мультиплексирование 2)

        кадр за кадром, линия за линией, внутри одного пикселя

        Гашение луча

        в течение обратного хода луча и когда сканер останавливается

        Скорость сканирования

        автоматический выбор наиболее быстрой скорости или ручной выбор

        Максимальная скорость сканирования с пьезо платформой 3)

        5 линий/с

        Определение области сканирования

        через зумирование и смещение или интерактивно через курсоры изображения

        Положение остановки луча

        выбирается курсором на FLIM изображении

        Управление лазером

        включение/выключение, регулировка мощности, мультиплексирование длины волны 2)

        Лазеры: импульсные пикосекундные диодные лазеры серии BDL-SMC или BDS

        Доступные длины волн излучения

        375 нм, 405 нм, 445 нм, 473 нм, 488 нм, 515 нм, 640 нм, 685 нм, 785 нм

        Частота повторения

        20 МГц, 50 МГц, 80 МГц

        Ширина импульса

        от 40 до 70 пс

        Мощность на выходе лазера в пикосекундном режиме

        от 0.2 мВт до 2 мВт в волокне, зависит от выбранной длины волны излучения

        Быстрая модуляция включение/выключение

        < 1 мкс, для PLIM и лазерного мультиплексирования длины волны 2)

        Детектор (стандартный): SPAD детектор id100-50-FC Id Quantique

        Спектральный диапазон

        от 400 до 1000 нм

        Пиковая квантовая эффективность

        50%

        Временное разрешение с пикосекундным лазером

        от 70 до 130 пс

        Скорость темнового счета, тепловая

        тип. от 100 до 200 имп/c, доступны версии со скоростью темнового счета <10 имп/c

        Источник питания

        6 В

        Детектор (опция): гибридный детектор HPM-100-40 Becker&Hickl 4)

        Спектральный диапазон

        от 400 до 700 нм

        Катод фотокатода

        GaAsP

        Пиковая квантовая эффективность

        от 40% до 50%

        Временное разрешение с пикосекундным лазером

        от 120 до 130 пс

        Скорость темнового счета, тепловая

        от 300 до 2000 имп/c

        Источник питания

        6 В

        Фон от эффекта послеимпульсов

        нерегистрируется

        Источник питание и отключение при перегрузке

        через контроллер DCC-100 TCSPC системы

        Детектор (опция): многоволновый детектор MW-FLIM Becker&Hickl 4)

        Число каналов

        16

        Ширина спектрального канала

        12.5 нм, другая по запросу

        Спектральный диапазон

        200 нм внутри диапазона от 400 до 700 нм

        Катод фотокатода

        GaAsP

        Временное разрешение с пикосекундным лазером

        250 пс

        Источник питание и отключение при перегрузке

        через контроллер DCC-100 TCSPC системы

        TCSPC система: TCSPC модуль SPC-150, SPC-150N или SPC-160 Becker&Hickl

        Принцип

        продвинутый время-аналоговый преобразователь/аналого-цифровой преобразователь

        Временной джиттер

        2.3 пс

        Временное разрешение

        6.8 пс

        Минимальная ширина временного канала

        813 фс

        Мертвое время

        100 нс (80 нс для платы SPC-160)

        Насыщенная скорость счета

        10 МГц (12 МГц для SPC-160)

        Работа с двойной шкалой времени

        через микро времена от время-аналогового преобразователя и через тактовый сигнал макро время

        Источник тактового сигнала макро времени

        внутренний тактовый сигнал 40 МГц или от лазера

        Вход от детектора

        дискриминатор следящего порога

        Сравнительный вход (SYNC)

        дискриминатор следящего порога

        Синхронизация со сканированием

        через импульсы Frame Clock, Line Clock, Pixel Clock

        Скорость сканирования

        любая скорость сканирования 3), автоматическое накопление кадров

        Синхронизация с лазерным мультиплексированием 2)

        через функцию маршрутизации

        Запись многоволновых данных

        одновременно во всех временных каналах, через функцию маршрутизации

        Основные принципы опроса

        построение распределения фотонов на плате, построение распределения фотонов в памяти компьютера, генерация однофотонных данных с отмеченными параметрами, автоматическая или перекрестная корреляция

        Рабочие режимы

        f(t), осциллограф, f(txy), f(t,T), f(t) непрерывный поток, режим FIFO (корреляция/FCS метки/MCS следы), визуализация Scan Sync In, Scan Sync In с непрерывным потоком, FIFO визуализация, MCS визуализация, мозаичная визуализация 6), визуализация временных рядов 6), работа в режиме множества длин волн 5), работа в режиме лазерного мультиплексирования 2), функция циклирования и повторения, функция автосохранения

        Максимальный размер изображения, пиксели

        2048х2048

        1024х1024

        512х512

        256х256

        Максимальное число временных каналов

        256

        1024

        4096

        4096

        Программное обеспечение SPCM:

        Операционная система

        Windows 7, Windows 8 или Windows 10, 64 бита

        Измерения в режиме старт/стоп

        С помощью пользователя или по таймеру, старт с началом сканирования, стоп с окончанием текущего кадра

        Вычисления и отображение в реальном времени, FLIM, PLIM

        в интервалах Display Time, мин. 1 секунда

        Вычисления и отображение в реальном времени, FCS, PCH

        в интервалах Display Time, мин. 1 секунда

        Число изображений отображаемых одновременно

        максимум 8

        Число кривых (Decay, FCS, PCH, Multiscaler)

        8 в одном окне кривой

        Цикл, повторение, функции автосохранения

        определяются пользователем

        Сохранение измеренных данных

        по команде пользователя или с помощью функции автосохранения

        Анализ FLIM и PLIM данных с помощью программного обеспечения SPCImage:

        Тип данных

        FLIM, PLIM, кривые распада флуоресценции и фосфоресценции

        Модели распада

        одно-, двух-, трех- экспоненциальные модели распада, неполные модели распада, первый момент

        Параметры получаемые при анализе

        время жизни компонентов, амплитуды, соотношение времени жизни и амплитуды, эффективность FRET, фракционные интенсивности компонент распада

        Визуализация

        закодированные цветом изображения параметров распада, гистограмма параметров распада по пикселям, 2D гистограммы параметров распада, векторный график

        Примечание:

        1) Другие сканирующие платформы по запросу. Контроллер платформы должен иметь аналоговые входы;

        2) Лазерное мультиплексирование требует использования второго лазера и одномодового светоделителя;

        3) Ограничено пьезо платформой. Скорость сканирования самых быстрых систем зависит от типа платформы. Конфигурируется для разных платформ;

        4) Требуется использование платы контроллера детекторов DCC-100;

        5) Требуется использование многоволнового детектора MW FLIM;

        6) Ограниченная применимость из-за медленной скорости сканирования пьезо платформы.

        Галерея
        1 фото —
        1/1 —
        Фото Сканирующая FLIM система PZ FLIM-110
        Фото Сканирующая FLIM система PZ FLIM-110
        Для доступа к файлам требуется Авторизация
        Документация на сканирующую FLIM систему PZ FLIM-110
        2.3 MБ
        Руководство пользователя на сканирующую FLIM систему PZ FLIM-110
        1.2 MБ

        Оплата продукции производится по безналичному расчету на основании счета либо договора поставки. Компания АЗИМУТ ФОТОНИКС принимает участие в конкурсных торгах (электронных аукционах) на выполнение заказов от бюджетных организаций. Для бюджетных организаций предусмотрена работа с частичной предоплатой в рамках договоров по ФЗ.

        Доставка оборудования и компонентов во все регионы России осуществляется транспортными компаниями (Major Express, Гарантпост, СДЭК) с обязательным соблюдением требований к транспортировке и хранению, также возможен самовывоз из нашего офиса в Москве. Условия отправки груза в страны СНГ и ЕАЭС необходимо уточнять отдельно у специалистов нашей компании.

        Все поставляемое нами оборудование обеспечивается официальной гарантией производителей с отправкой на ремонт и замену. Как правило, срок гарантии – 1 год.
        С этим товаром покупают
        Артикул
        13-090
        Тип оптических фильтров
        абсорбционные светофильтры, фильтры для микроскоп
        Размер
        12.5 мм
        Действие
        абсорбционные, отражение, поглощение
        Фото Абсорбционный фильтр, OD 1.85 при 550 нм, диаметр: 12.5 мм, покрытие для 425-675 нм (0°), Edmund Optics
        Абсорбционный фильтр, OD 1.85 при 550 нм, диаметр: 12.5 мм, покрытие для 425-675 нм (0°), Edmund Optics
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Артикул
        65-107
        Тип
        Bandpass Filter
        Покрытие
        Hard Coated
        Тип оптических фильтров
        полосовые фильтры
        Размер
        12.5 мм
        Фото Полосовой фильтр с твердым покрытием, OD 4.0, центральная длина волны: 640 нм, диаметр: 12.5 мм, ширина полосы: 10 нм, Edmund Optics
        Полосовой фильтр с твердым покрытием, OD 4.0, центральная длина волны: 640 нм, диаметр: 12.5 мм, ширина полосы: 10 нм, Edmund Optics
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Артикул
        65-141
        Тип
        Bandpass Filter
        Покрытие
        Hard Coated
        Тип оптических фильтров
        полосовые фильтры
        Размер
        25 мм
        Фото Полосовой фильтр с твердым покрытием, OD 4.0, центральная длина волны: 455 нм, диаметр: 25 мм, ширина полосы: 10 нм, Edmund Optics
        Полосовой фильтр с твердым покрытием, OD 4.0, центральная длина волны: 455 нм, диаметр: 25 мм, ширина полосы: 10 нм, Edmund Optics
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Артикул
        65-812
        Тип
        Neutral Density Filter
        Покрытие
        Uncoated
        Тип оптических фильтров
        нейтральные фильтры
        Оптическая плотность
        0.4
        Размер
        50 мм
        Действие
        абсорбционные, отражение, поглощение
        Фото Поглощающий фильтр нейтральной плотности, OD 0.4, диаметр: 50 мм, Edmund Optics
        Поглощающий фильтр нейтральной плотности, OD 0.4, диаметр: 50 мм, Edmund Optics
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Артикул
        64-137
        Применение
        для OEM применений
        Примечание
        Optical density values are average over specified blocking wavelength range.
        Тип
        Neutral Density Filter
        Покрытие
        Surface 1: Inconel
        Тип оптических фильтров
        нейтральные фильтры
        Особенности оптических фильтров
        отражающие
        Оптическая плотность
        0.1
        Размер
        50 мм
        Действие
        отражение
        Фото Отражающий фильтр нейтральной плотности, OD 0.1, сторона: 50 мм, Edmund Optics
        Отражающий фильтр нейтральной плотности, OD 0.1, сторона: 50 мм, Edmund Optics
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Артикул
        88-365
        Тип
        Bandpass Filter
        Покрытие
        Variable
        Тип оптических фильтров
        полосовые фильтры
        Особенности оптических фильтров
        перестраиваемые
        Тип полосовых фильтров
        перестраиваемые полосовые фильтры
        Особенности
        перестраиваемые
        Фото Линейно перестраиваемый полосовой фильтр, покрытие для 400-700 нм, Edmund Optics
        Линейно перестраиваемый полосовой фильтр, покрытие для 400-700 нм, Edmund Optics
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Поставщик
        Edmund Optics
        Типы изделий
        колеса фильтров
        Тип
        моторизованные
        Диаметр
        1"
        Артикул
        88-171
        Количество фильтров
        6
        Комплектующие каркасных систем
        колеса фильтров
        Комплектующие
        колеса фильтров
        Фото Моторизированное миниатюрное колесо фильтров, количество позиций: 6, диаметр фильтра: 25/25.4 мм, Edmund Optics
        Моторизированное миниатюрное колесо фильтров, количество позиций: 6, диаметр фильтра: 25/25.4 мм, Edmund Optics
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Поставщик
        Edmund Optics
        Тип товара
        Стержни и держатели стержней
        Артикул
        58-953
        Оптические столы и плиты
        cистемы для установки на оптический стол
        Высота
        63.5
        Диаметр стержня
        1/2"
        Резьбовое отверстие стержней
        M4
        Особенности стержней
        с метрической резьбой
        Материал
        сталь
        Фото Стальной стержень с метрической резьбой, длина: 63.5 мм, резьба: M4x0.7, Edmund Optics
        Стальной стержень с метрической резьбой, длина: 63.5 мм, резьба: M4x0.7, Edmund Optics
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Артикул
        39-326
        Тип
        Bandpass Filter
        Покрытие
        Hard Coated
        Тип оптических фильтров
        полосовые фильтры
        Размер
        50 мм
        Фото Полосовой фильтр с твердым покрытием, OD 4.0, центральная длина волны: 1450 нм, диаметр: 50 мм, ширина полосы: 10 нм, Edmund Optics
        Полосовой фильтр с твердым покрытием, OD 4.0, центральная длина волны: 1450 нм, диаметр: 50 мм, ширина полосы: 10 нм, Edmund Optics
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Поставщик
        Edmund Optics
        Типы изделий
        объект-микрометры
        Артикул
        58-608
        Компоненты микроскопа
        объективы
        Комплектующие, аксессуары
        объект-микрометры
        Фото Объект-микрометр: двухосная линейная шкала, Edmund Optics
        Объект-микрометр: двухосная линейная шкала, Edmund Optics
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
        Отправить запрос
        Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа

        Нужна консультация?

        Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
        Задать вопрос
        Каталог
        Каталог THORLABS
        Каталог Hamamatsu
        Каталог Edmund Optics
        Поставщики
        Компания
        Вакансии
        Проекты
        Контакты
        Полезное
        Статьи
        Новости
        Видео
        Выставки
        Условия сотрудничества
        Правила пользования сайтом
        Карта сайта
        Подписаться на рассылку
        8 (800) 551-20-97
        8 (800) 551-20-97
        +7 (812) 407-10-47Санкт-Петербург
        Заказать звонок
        info@azimp.ru
        119049, г. Москва, ул. Шаболовка, д. 10, корп.1 помещ. 7/1 (м. Шаболовская)
        2025 © АЗИМУТ ФОТОНИКС