AMA557/M - Основание для регуляции высоты многоосных платформ (3 степени свободы) и наклонных платформ, высота: 35 мм, метрическая резьба, Thorlabs

Описание

AMA557 — высотный адаптер для 3‑осных платформ и конфигураций с наклонными (tip/tilt) платформами. Его роль — обеспечить правильную высоту деки системы, когда к 3‑осной платформе добавляют аксессуар наклона по двум осям (pitch/yaw или pitch/roll).

В документации Thorlabs отмечается, что AMA557 рассчитан на получение высоты деки 112,5 мм для 3‑осных платформ при одновременном использовании tip/tilt‑аксессуара; толщина самого адаптера — 35 мм. Это «компенсатор высоты»: он учитывает добавку, которую даёт наклонная платформа, чтобы итоговая геометрия совпала с другими модулями по уровню.

С инженерной точки зрения это снижает риск «ступенек» в оптической оси при сборке сложных систем. Вместо подбора проставок вы ставите рассчитанный модуль и получаете предсказуемую высоту и удобный монтаж.

AMA557 особенно уместен в задачах тонкой юстировки, где наклон добавляет два угла, а линейные перемещения остаются на платформе — итогом становится компактный 5‑осный узел с согласованной высотой.

Характеристики

• Артикул: AMA557/M.
• Наименование по номенклатуре: Основание для регуляции высоты многоосных платформ (3 степени свободы) и наклонных платформ, высота: 35 мм, метрическая резьба.
• Производитель: Thorlabs.
• Исполнение /M: метрическая система крепежа/резьб (в отличие от дюймовой версии).
• Толщина адаптера: 35 мм (по данным производителя для AMA557).
• Назначение: обеспечить 112,5 мм высоту деки 3‑осной платформы при использовании tip/tilt‑аксессуара.

Отрасли применения

• Фотоника и лазерные лаборатории: сборка оптических трактов и юстировка компонентов.
• Волоконная оптика: запуск/сведение излучения в волокно, стенды для couplers и коллиматоров.
• Квантовая оптика и атомная физика: стабильные многокоординатные узлы в экспериментах.
• Микроскопия и спектроскопия: позиционирование образца/оптики при ограниченном пространстве.
• Полупроводниковая и микроэлектронная метрология: повторяемая подстройка узлов в измерительных установках.
• OEM‑интеграция: модульные сборки в приборостроении и НИОКР.