Мультиспектральная визуализация в системах машинного зрения
Компания CONTRASTECH предлагает решения для мультиспектральной визуализации в системах машинного зрения. Для заказа доступны камеры, объективы и системы освещения для УФ (10~400 нм), видимого (400~700 нм), ближнего ИК (NIR: 700~900 нм), коротковолнового ИК (SWIR: 1000~3000 нм) и длинноволнового ИК (LWIR: 8000 – 14000 нм) диапазонов.
Визуализация в УФ области
УФ визуализация используется для обнаружения царапин и дефектов на полированных или сильно отражающих поверхностях. Она особенно полезна для обнаружения мелких деталей на поверхностях печатных плат, документов и кредитных карт. Компания CONTRASTECH предоставляет специализированные камеры, объективы и системы освещения для съемки в УФ диапазоне.
LWIR камеры
Визуализация в области длинноволнового ИК излучения (LWIR) позволяет обнаруживать тепловое излучение на больших расстояниях, в полной темноте, а также сквозь туман, пыль, дождь и дым. Это может использоваться для мониторинга, обеспечения безопасности и проведения спасательных операций. В ассортименте CONTRASTECH представлены системы для наблюдения, измерения температуры и LWIR микро-камеры.
Визуализация в ближнем ИК диапазоне (NIR)
NIR визуализация может выявлять скрытые особенности, такие как механические повреждения, заражение насекомыми и порча продуктов питания в фруктах. Она также может проникать сквозь некоторые красители и чернила, что позволяет инспектировать продукты через печатную упаковку. Часто используется в промышленности при работе с древесиной, текстилем, бумагой, стеклом, плиткой и электроникой. CONTRASTECH предлагает NIR камеры с интерфейсами: USB 3.0, GigE, CameraLink.
SWIR камеры
Свет в диапазоне длин волн SWIR обладает свойством проникать через слои кремниевых пластин, поэтому применение датчиков изображений SWIR позволяет четко определять позиционные метки. Компания CONTRASTECH поставляет cпециализированные объективы и сканирующие камеры для SWIR визуализации.
