Лазерная микроскопия используется для визуализации образцов с использованием сфокусированных лазерных лучей. В общих случаях применениях лазерной микроскопии образец сканируется сфокусированным лазерным лучом, а интенсивность отраженного луча преобразуется в цифровое изображение. Конфокальная микроскопия, также известная как конфокальная лазерная сканирующая микроскопия, предлагает различные преимущества по сравнению с традиционной широкопольной микроскопией, такие как повышенное разрешение, целевая визуализация и большая глубина проникновения. Обычные методы лазерной микроскопии включают микроскопию сверхвысокого разрешения, флуоресцентную микроскопию и двух- или многофотонную микроскопию.
Edmund Optics предлагает широкий спектр объективов для лазерной микроскопии, которые оптимизированы для работы со стандартными длинами волн лазера, такими как популярные лазерные диоды или гармоники Nd: YAG лазера. Объективы Edmund Optics под маркой TECHSPEC® ReflX ™ - это отражающие объективы микроскопа, которые могут эффективно фокусировать лазерный свет без внесения каких-либо хроматических аберраций. Эти объективы имеют прочную конструкцию, способную выдерживать воздействие умеренного нагрева или трения, и идеально подходят для применений, которые варьируются от ИК-спектроскопии до инспекции полупроводников. Также доступны высокопроизводительные объективы TECHSPEC® ReflX™, обеспечивающие лучшие оптические характеристики и допускающие углы падения до 45°. Объективы Mitutoyo отлично подходят для работы с гармониками Nd: YAG лазеров и для интеграции в системы полупроводникового контроля или лазерной резки.
