Азимут Фотоникс
Интернет-магазин представительского класса
Каталог
Детекторы излучения
Лазеры и лазерные системы
Лазерные диоды и модули
Камеры и объективы
Контрольно-измерительное оборудование
Источники света
Волоконная оптика
Оптика
Оптомеханика
Обучающие наборы
Программное обеспечение
Микроскопы
Каталог Thorlabs
Визуализация
Системы позиционирования
Оптика
Волоконная оптика
Источники излучения
Анализаторы излучения
Оптические системы
Оптомеханика
Каталог Hamamatsu
Каталог Edmund Optics
Оптика
Лазерная оптика
Микроскопия
Лазеры
Объективы
Камеры
Системы освещения
Тест-объекты
Контрольно-измерительные приборы
Лабораторное оборудование и расходные материалы
Новая продукция
Спецпредложения
Ресерцифицируемые продукты
Оптомеханика
Поставщики
Новости
Статьи
Выставки
Видео
Вебинары и презентации
Демонстрации работы
Каталог Edmund Optics
Каталог Thorlabs
Оптомеханика 3DOptix
ПО 3DOptix
Вакансии
Контакты
О компании
8 (800) 551-20-97
8 (800) 551-20-97Москва
+7 (812) 407-10-47Санкт-Петербург
Заказать звонок
Задать вопрос
Войти
  • Корзина0
  • Отложенные0
Ваш город
Москва
Москва
Алма-Ата
Астана
Великий Новгород
Владивосток
Воронеж
Дубна
Екатеринбург
Ижевск
Иркутск
Казань
Калининград
Краснодар
Красноярск
Минск
Нижний Новгород
Новосибирск
Омск
Пермь
Ростов-на-Дону
Самара
Санкт-Петербург
Саров
Тверь
Томск
Тюмень
Уфа
Челябинск
Черноголовка
info@azimp.ru
Москва, ул. Шаболовка, д. 10,корп.1 помещ. 7/1 (м. Шаболовская)
  • О компании
  • Услуги
  • Новости
  • Статьи
  • Выставки
  • Видео
  • Вакансии
  • Контакты
  • Условия сотрудничества
  • ...
    8 (800) 551-20-97
    8 (800) 551-20-97Москва
    +7 (812) 407-10-47Санкт-Петербург
    Заказать звонок
    ru
    en
    ru
    Войти
    Азимут Фотоникс
    Ваш город
    Москва
    Москва
    Алма-Ата
    Астана
    Великий Новгород
    Владивосток
    Воронеж
    Дубна
    Екатеринбург
    Ижевск
    Иркутск
    Казань
    Калининград
    Краснодар
    Красноярск
    Минск
    Нижний Новгород
    Новосибирск
    Омск
    Пермь
    Ростов-на-Дону
    Самара
    Санкт-Петербург
    Саров
    Тверь
    Томск
    Тюмень
    Уфа
    Челябинск
    Черноголовка
    Каталог
    • Детекторы излучения
      Детекторы излучения
    • Лазеры и лазерные системы
      Лазеры и лазерные системы
    • Лазерные диоды и модули
      Лазерные диоды и модули
    • Камеры и объективы
      Камеры и объективы
    • Контрольно-измерительное оборудование
      Контрольно-измерительное оборудование
    • Источники света
      Источники света
    • Волоконная оптика
      Волоконная оптика
    • Оптика
      Оптика
    • Оптомеханика
      Оптомеханика
    • Обучающие наборы
      Обучающие наборы
    • Программное обеспечение
      Программное обеспечение
    • Микроскопы
      Микроскопы
    Каталог Thorlabs
    • Визуализация
      Визуализация
    • Системы позиционирования
      Системы позиционирования
    • Оптика
      Оптика
    • Волоконная оптика
      Волоконная оптика
    • Источники излучения
      Источники излучения
    • Анализаторы излучения
      Анализаторы излучения
    • Оптические системы
      Оптические системы
    • Оптомеханика
      Оптомеханика
    Каталог Hamamatsu
    Каталог Edmund Optics
    • Оптика
      Оптика
    • Лазерная оптика
      Лазерная оптика
    • Микроскопия
      Микроскопия
    • Лазеры
      Лазеры
    • Объективы
      Объективы
    • Камеры
      Камеры
    • Системы освещения
      Системы освещения
    • Тест-объекты
      Тест-объекты
    • Контрольно-измерительные приборы
      Контрольно-измерительные приборы
    • Лабораторное оборудование и расходные материалы
      Лабораторное оборудование и расходные материалы
    • Новая продукция
      Новая продукция
    • Спецпредложения
      Спецпредложения
    • Ресерцифицируемые продукты
      Ресерцифицируемые продукты
    • Оптомеханика
      Оптомеханика
    Поставщики
    Проекты
    • Спектроскопия
    +  ЕЩЕ
      Азимут Фотоникс
      Каталог
      • Детекторы излучения
        Детекторы излучения
      • Лазеры и лазерные системы
        Лазеры и лазерные системы
      • Лазерные диоды и модули
        Лазерные диоды и модули
      • Камеры и объективы
        Камеры и объективы
      • Контрольно-измерительное оборудование
        Контрольно-измерительное оборудование
      • Источники света
        Источники света
      • Волоконная оптика
        Волоконная оптика
      • Оптика
        Оптика
      • Оптомеханика
        Оптомеханика
      • Обучающие наборы
        Обучающие наборы
      • Программное обеспечение
        Программное обеспечение
      • Микроскопы
        Микроскопы
      Каталог Thorlabs
      • Визуализация
        Визуализация
      • Системы позиционирования
        Системы позиционирования
      • Оптика
        Оптика
      • Волоконная оптика
        Волоконная оптика
      • Источники излучения
        Источники излучения
      • Анализаторы излучения
        Анализаторы излучения
      • Оптические системы
        Оптические системы
      • Оптомеханика
        Оптомеханика
      Каталог Hamamatsu
      Каталог Edmund Optics
      • Оптика
        Оптика
      • Лазерная оптика
        Лазерная оптика
      • Микроскопия
        Микроскопия
      • Лазеры
        Лазеры
      • Объективы
        Объективы
      • Камеры
        Камеры
      • Системы освещения
        Системы освещения
      • Тест-объекты
        Тест-объекты
      • Контрольно-измерительные приборы
        Контрольно-измерительные приборы
      • Лабораторное оборудование и расходные материалы
        Лабораторное оборудование и расходные материалы
      • Новая продукция
        Новая продукция
      • Спецпредложения
        Спецпредложения
      • Ресерцифицируемые продукты
        Ресерцифицируемые продукты
      • Оптомеханика
        Оптомеханика
      Поставщики
      Новости
      Статьи
      Выставки
      Видео
      • Вебинары и презентации
      • Демонстрации работы
      • Каталог Edmund Optics
      • Каталог Thorlabs
      • Оптомеханика 3DOptix
      • ПО 3DOptix
      Вакансии
      Контакты
      О компании
      +  ЕЩЕ
        ru
        en
        ru
        Азимут Фотоникс
        Телефоны
        8 (800) 551-20-97
        +7 (812) 407-10-47Санкт-Петербург
        Заказать звонок
        • Каталог
          • Назад
          • Каталог
          • Детекторы излучения
          • Лазеры и лазерные системы
          • Лазерные диоды и модули
          • Камеры и объективы
          • Контрольно-измерительное оборудование
          • Источники света
          • Волоконная оптика
          • Оптика
          • Оптомеханика
          • Обучающие наборы
          • Программное обеспечение
          • Микроскопы
        • Каталог Thorlabs
          • Назад
          • Каталог Thorlabs
          • Визуализация
          • Системы позиционирования
          • Оптика
          • Волоконная оптика
          • Источники излучения
          • Анализаторы излучения
          • Оптические системы
          • Оптомеханика
        • Каталог Hamamatsu
        • Каталог Edmund Optics
          • Назад
          • Каталог Edmund Optics
          • Оптика
          • Лазерная оптика
          • Микроскопия
          • Лазеры
          • Объективы
          • Камеры
          • Системы освещения
          • Тест-объекты
          • Контрольно-измерительные приборы
          • Лабораторное оборудование и расходные материалы
          • Новая продукция
          • Спецпредложения
          • Ресерцифицируемые продукты
          • Оптомеханика
        • Поставщики
        • Новости
        • Статьи
        • Выставки
        • Видео
          • Назад
          • Видео
          • Вебинары и презентации
          • Демонстрации работы
          • Каталог Edmund Optics
          • Каталог Thorlabs
          • Оптомеханика 3DOptix
          • ПО 3DOptix
        • Вакансии
        • Контакты
        • О компании
        • Москва
          • Назад
            • Москва
            • Алма-Ата
            • Астана
            • Великий Новгород
            • Владивосток
            • Воронеж
            • Дубна
            • Екатеринбург
            • Ижевск
            • Иркутск
            • Казань
            • Калининград
            • Краснодар
            • Красноярск
            • Минск
            • Нижний Новгород
            • Новосибирск
            • Омск
            • Пермь
            • Ростов-на-Дону
            • Самара
            • Санкт-Петербург
            • Саров
            • Тверь
            • Томск
            • Тюмень
            • Уфа
            • Челябинск
            • Черноголовка
        • Ru
          • Назад
          • Язык
          • Ru
          • En
        • 8 (800) 551-20-97Москва
          • Назад
          • Телефоны
          • 8 (800) 551-20-97Москва
          • +7 (812) 407-10-47Санкт-Петербург
          • Заказать звонок
        Контактная информация
        Москва, ул. Шаболовка, д. 10,корп.1 помещ. 7/1 (м. Шаболовская)
        info@azimp.ru

        Широкоформатные КМОП сенсоры

        Главная
        —
        Статьи
        —Широкоформатные КМОП сенсоры
        17 янв 2011

        Широкоформатные КМОП сенсоры с активными пикселями для цифровой рентгенографии

        Более 100 лет назад в медицинской рентгенографии для получения изображения применялась пленка, и поэтому система показателей качества получаемого изображения и полезность для конкретных применений развивались вокруг пленочной технологии. Приборы с зарядовой связью (ПЗС или CCD – charge coupled device), работающие в видимом диапазоне длин волн, были успешно опробованы в некоторых научных и медицинских рентгеновских применениях, будучи интегрированными в электронно-оптические преобразователи или путем установки конической волоконно-оптической шайбы и сцинтиллятора. С появлением плоских панелей, изготовленных по технологии тонкопленочных транзисторов на аморфном кремнии (a-Si), были разработаны детекторные матрицы с пассивным пикселем. Матрицы из аморфного кремния успешно устанавливались на большие стеклянные панели, которые благодаря своим габаритным размерам стали применяться в медицинской рентгенографии грудной клетки. Несмотря на то, что технология производства панелей из аморфного кремния является универсальной и технологически возможно изготавливать детекторы большого формата, она имеет ряд недостатков в виде высокого шума считывания (более 1000 электронов), ограничение в размере шага пикселя и невозможности дальнейшего снижения себестоимости производства. Несмотря на то, что ПЗС сенсоры обладают высокой производительностью при низком уровне шума, они не являются экономически оправданными для изготовления детекторных панелей большого размера.

        1.jpg

        Для устранения ограничений современных сенсорных технологий была разработана технология изготовления широкоформатных (VLA – very large area) КМОП сенсоров (CMOS) с активным пикселем (APS – active pixel sensor) для применения в цифровой рентгенографии. Большие активные области детектора необходимые для получения широкоформатного рентгеновского изображения изготавливаются посредством черепичной структуры - соединение гранями активных областей нескольких VLA CMOS сенсоров в большую сенсорную панель. Впервые этот метод черепичной структуры стал известен в конце 1970-х при изготовлении длинных CCD TDI сенсоров, и в последствие продолжил свое развитие в 1980-х и 1990-х годах, главным образом применительно к широкоформатным CCD матрицам. КМОП сенсоры большого размера идеально подходят для использования в рентгенографии благодаря технологической возможности изготовления широкой активной площади, соответствию требованиям медицинской рентгенографии и гибкости в реализации конструкции цифровой системы получения рентгеновского изображения, которую невозможно получить, применяя другие сенсорные технологии.

        Цифровая рентгенография основана на прохождении рентгеновского излучения через исследуемые объекты и его поглощении люминофорными покрытиями, такими как оксисульфид гадолиния (Gd2O2S) или йодид цезия (CsI). Люминофоры испускают фотоны в видимом диапазоне длин волн, генерирующие фотоэлектроны собранные и считанные матрицей полупроводниковых фотоприемников. В случае КМОП сенсоров с активным пикселем заряд электронов преобразуется в напряжение активно-транзисторной цепи соединенной pn-переходом детектора. Для получения изображения массив из MxN пикселей, позволяющий преобразовывать заряд в напряжение непосредственно на пикселе, сканируется в параллельном/последовательном режиме, и полученный сигнал выводится на аналого-цифровой преобразователь (АЦП) для дальнейшего накопления и отображения информации.

        2.jpg

        В большинстве случаев в цифровых рентгеновских системах не применяются оптические линзы, и разрешение определяется в первую очередь размером пятна источника рентгеновского излучения. За исключением рентгеновских систем, в которых применяются микрофокусные (в последнее время - нанофокусные) источники излучения, в большинстве применений размер пятна источника излучения превышает 50 мкм,в результате чего можно успешно применять фотодетекторы большой площади, к которым не предъявляются высокие требования к минимальному размеру шага пикселя.

        Одним из основных параметров цифровых рентгеновских систем является размер активной области детектора. В медицинских применениях, например, в рентгенографии грудной клетки, используются детекторы с большой активной областью (более 43х43 см) и с относительно низким разрешением (менее 4 пар линий/мм), а в стоматологии сенсоры ограничиваются размером 20-40 мм с каждой стороны с меньшим шагом пикселя (менее 25 мкм). Радиографический контроль печатных плат может быть выполнен с применением детекторов с активной областью 5х5 см, в то время как для маммографии требуется размер активной области не менее 25х30 см. Именно по этой причине отсутствуют универсальные сенсоры, отвечающие множеству требований, предъявляемые к получаемому изображению и соизмеримые с различными размерами активной области. Технология изготовления КМОП сенсоров с активным пикселем черепичной структуры позволяет получить требуемое разрешение, динамический диапазон, масштабируемость и конкурентоспособную стоимость для широкого спектра применений в цифровой рентгенографии.

        3.jpg

        В 2000 году Грейвом и Веклером была разработана технология изготовления КМОП матриц для рентгенографии, основанная на инновационном дизайне КМОП сенсора черепичной структуры с активным пикселем, обладавшего следующими характеристиками – шаг пикселя 48 мкм; количество пикселей 512×1024; размер активной области 2,5х5 см; полная емкость 2,3 млн. электронов и шум считывания менее 150 электронов. Для создания детекторных панелей с большой активной областью, например для маммографии, применяются аналогичные VLA CMOS сенсоры с шагом пикселя 96 мкм, форматом изображения 512×1024 пикселей и активной областью 5×10 см. Восемь VLA CMOS сенсоров могут быть собраны в детекторную панель размером 20х20 см формата 2048×2048 пикселей с получаемым разрешением 5 пар линий/мм. В конечном счете данная технология может быть использована для создания детекторных панелей размером до 20х30 см для применения в неразрушающем контроле и медицинской рентгенографии. Дальнейшие разработки VLA CMOS сенсоров будут ориентированы на улучшение производительности - частота кадров, отклик пикселей, снижение шума и увеличение размеров активной области сенсора.

        На рис. 1 и 2 показан VLA CMOS сенсор черепичной структуры, благодаря которой три грани активной области сенсора могут быть состыкованы с гранями аналогичных VLA CMOS сенсоров для создания большой рентгеновской детекторной панели. Шаг между пикселями составляет 96 мкм, размер активной области 49,1х98,3 мм. Интегрированная на кристалле КМОП схема обработки сигнала включает в себя цепи смещения, управляющую логику, формирователи синхронизирующих импульсов, регистр адресных строк, усилители и регистр вертикальных строк. Соединение нескольких сенсоров в одну панель требует размещения регистра адресных строк в центре матрицы, где он занимает активную площадь равную 1,5 столбца. Пиксели, прилегающие к адресному регистру, масштабируются таким образом, чтобы сохранить интервал целого пикселя. С каждой из трех сторон сенсора область активных пикселей располагается по возможности как можно ближе к краю кристалла (линия скрайбирования). Разрыв (щель) между крайними пикселями соседних сенсоров обычно занимает от 1,0 до 1,5 пикселей, которые можно компенсировать путем масштабирования крайних пикселей до более узкой ширины. На рис. 2 показана фотография VLA CMOS сенсора фирмы Rad-Icon Imaging.

        4.jpg

        На рис. 3 показан профиль детекторной панели собранной из нескольких VLA CMOS сенсоров соединенных друг с другом гранями активных областей. Профиль представляет собой поперечное сечение сенсорной панели, металлокерамической подложки, на поверхности которой установлен кристалл КМОП сенсора с разведенными контактами, оптоволоконной шайбы (устанавливается по требованию клиента), сцинтилляционной пленки, слоя специализированной монтажной пены и оптически-непрозрачной крышки с низким коэффициентом поглощения рентгеновского излучения. КМОП сенсоры состыкованы друг с другом с точностью до 10 мкм (менее 0,1 пикселя). Будучи эффективным поглотителем рентгеновского излучения, волоконно-оптическая шайба предотвращает КМОП сенсор от прямого поглощения рентгеновских фотонов, тем самым снижая уровень шума и повышая квантовую эффективность при высоких пространственных частотах.
        При использовании цифровых рентгеновских панелей, ставших катализатором для технологии изготовления VLA CMOS сенсоров состыкованных между собой посредством черепичной структуры, особое внимание уделяется нескольким характерным особенностям:
        1. Размер пикселя определяется типом применения, размером пятна источника рентгеновского излучения и технологическими возможностями производства. Пиксели малых размеров не являются необходимыми для многих применений, т.к. для большинства рентгенографических задач достаточно получение разрешения 2-10 пар линий/мм, а для высокого динамического диапазона более желательна большая полная емкость. Большие пиксели позволяют создавать менее плотное расположение технологических слоев сенсора, например металлические проводники, которые в конечном счете влияют на выход годной продукции и ее себестоимость. 
        2. В большинстве применений, за исключением рентгеноскопии и компьютерной томографии, не требуются скорости более нескольких кадров в секунду. Схемотехника VLA CMOS сенсоров оптимизирована для работы с тактовой частотой синхронизирующих импульсов 1-2 МГц. Большая паразитная емкость и длинные металлические шины ограничивают работу при высокой тактовой частоте. 
        3. Параметры пикселя, в частности топология фотодиода, оптимизированы для достижения эффективного преобразования заряда в напряжение и получения высокой квантовой эффективности при минимизации шума считывания. Добавление схемных элементов для достижения лучшей или более универсальной производительности пикселя, например интегрированная в пиксель функция коррелированной двойной выборки для снижения шума считывания, приводит к усложнению схемотехники, снижению выхода годной продукции и повышению себестоимости.

        5.jpg

        На рис. 4 представлена спектральная характеристика VLA CMOS сенсора полученная при облучении светодиодом для создания узкополосного освещения. При длине волны 550 нм значение квантовой эффективности QE составляет 47% ± 3%. Глубина pn-перехода и обедненного слоя КМОП фотодиода достаточны для захвата значительного количества носителей-электронов, генерируемых фотонами с длиной волны 550 нм при излучении сцинтиллятора. Квантовая эффективность QE также зависит от внутренней структуры фотодиода, которая ограничивает область активного пикселя. Т.к. открытая апертура пикселя составляет более 85%, то отсутствует необходимость в применении микролинз.

        На рис. 5 показаны измеренные отклонения сигнала при различных рабочих частотах. При тактовой частоте 750 кГц достигается скорость передачи данных 1,3 кадра/сек и коэффициент преобразования 0,21 мкВ/электрон. Измерения темнового тока проводились при различной температуре, и его значение вписывается в статистические рамки, соответствующие удвоенному значению тока утечки для стандартного кремниевого диода. При комнатной температуре среднее значение темнового тока составляет 23 500 электрон/сек при среднеквадратичном значении шума 153 электрон/сек.

        6.jpg

        На рис. 6 показана гистограмма типового распределения темнового тока при комнатной температуре. Неоднородность темнового сигнала составляет 8%, а при комнатной температуре плотность темнового тока равняется 0,41 пA/мм2 в ранних версиях топологии КМОП сенсора. В более современной конструкции КМОП сенсора с улучшенной стабилизацией приповерхностных ловушек носителей заряда удалось достичь плотность темнового тока 0,33 пA/мм2.

        Линейность отклика в режиме большого сигнала ограничена изменением емкости обедненного слоя, так как заряд большого сигнала сдерживает обедненный слой фотодиода. Максимальный динамический диапазон VLA CMOS сенсора, принимая во внимание шум считывания 250 электронов, составляет 20% * log(Nmax/Nnoise) = 85,1 дБ. Полезный линейный динамический диапазон составляет 83,7 дБ.

        Потребление мощности в VLA CMOS сенсоре определяется главным образом постоянным током, питающим цепи смещения. Относительно низкая тактовая частота синхронизирующих импульсов и малый коэффициент заполнения требуют минимального потребления переменного тока. Таким образом сенсор потребляет менее 150 мВт при питании 5 В, в этом случае фотодетекторная панель, состоящая из 8 VLA CMOS сенсоров будет рассеивать менее 1,2 Вт на площади 400 см2. В таблице кратко представлены параметры VLA CMOS сенсора используемого в качестве детектора в рентгенографической панели размером 20х20 см.

        table.jpg

        7.jpg

        VLA CMOS сенсоры были разработаны для применения в широком спектре рентгенографических применений, в том числе для медицинской биопсии тканей, стоматологии, в промышленном неразрушающем контроле и рентгеновской кристаллографии. Каждое из этих применений требует ориентации на различные рабочие характеристики используемого сенсора в зависимости от дозы облучения, уровня энергии рентгеновского излучения и требования к широте динамического диапазона.

        Рентгеновского поглощение является функцией от общего объема поглощаемого излучения, проходящего через исследуемый материал, поэтому более высокая эффективность поглощения для типовых гадоллиниевых сцинтилляторов требует применения более толстых слоев сцинтилляционного материала. Разрешение рентгеновской камеры зависит от нескольких факторов, одним из которых является толщина сцинтиллятора вследствие изотропного распространения фотонов в сцинтилляционном материале. На рис. 7 показана модуляционная передаточная функция VLA CMOS сенсора полученная при использовании двух стандартных гадоллиниевых сцинтилляционных экранов. Гадоллиниевый экран серии Kodak Min-R 2190 позволяет получить контраст 20% при теоретическом пределе Найквиста из 5 пар линий/мм. Более толстый сцинтиллятор, например серии DRZ Standard или Lanex Fast, способен поглотить большую долю рентгеновских фотонов, и как следствие в результате повышения чувствительности камеры будет снижено разрешение получаемого изображения. VLA CMOS сенсор покрытый сцинтиллятором серии DRZ Standard позволяет получить контраст 20% при разрешении 2,7 пар линий/мм и менее 5% при разрешении 5 пар линий/мм. На рис. 8 для этих типов сцинтилляторов показана зависимость отклика рентгеновской камеры от дозы облучения при энергии рентгеновского излучения 50 кВ.

        8.jpg

        Специализированное программное обеспечение используется для удаления нежелательного влияния сигнала темнового тока на получаемую картинку путем вычитания усредненного кадра темнового сигнала (dark offset) из каждого кадра с информацией о получаемом изображении. Аналогичным образом удаляются различия в отклике пикселя путем усреднения нескольких кадров с информацией об изображении и использовании алгоритмов коррекции коэффициента усиления для нормализации отклика с каждого отдельного пикселя. Этих двух форм коррекции картинки достаточно, чтобы удалить большинство искажений и дефектов, возникающих на конечном изображении. В отдельных случаях, используя более сложные нелинейные или кусочно-линейные методы многоточечной коррекции, можно практически полностью удалить дефекты изображения, возникшие вследствие изменения линейности отклика сенсора. Простые алгоритмы двухточечной коррекции прекрасно справляются с дефектами отдельных пикселей, горизонтальных и вертикальных строк, однако для корректировки больших дефектов требуются более сложные алгоритмы.

        9.jpg

        На рис. 9 и 10 показаны рентгеновские изображения полученные с помощью детекторной панели, состоящей из нескольких VLA CMOS сенсоров. Для обработки изображений использовалась коррекция темнового тока, нормализация коэффициента усиления и коррекция отдельных пикселей. На рис. 9 показано изображение полученное методом рентгеновского неразрушающего контроля с целью обнаружения оборванных проводников, дефектов пайки, неполного травления печатной платы. На рис. 10 представлено изображение биологического образца, требующего высокого значения соотношения сигнал-шум для обнаружения малых дефектов, которые имеют небольшие изменения плотности или, в случае медицинского применения, повреждений, переломов и наличия инородных объектов. На этом рисунке хорошо виден заметный контраст между мягкими тканями и плотными костями рыбного скелета. Это действительно так, даже не смотря на то, что контраст между сигналами, отвечающими за получение изображения костей и окружающей их биомассы, составляет только 1,09:1.

        10.jpg

        VLA CMOS сенсоры могут быть состыкованы в детекторную панель с размером активной области 20х30 см и даже более, и в сочетании с соответствующим типом сцинтиллятора позволит получить малошумящее цифровое изображение высокого качества для медицины, стоматологии, промышленных и научных применений. Будущие разработки VLA CMOS сенсоров будут ориентированы на повышение частоты кадров, снижение шума считывания и улучшение работы интегрированной схемотехники. Радиационная стойкость, особенно для высоких энергий рентгеновского излучения, может быть достигнута при использовании материалов поглощающих излучение, например волоконно-оптические шайбы, а также оптимизацией конструкции КМОП сенсора. Такие преимущества как низкий шум считывания (менее 300 электрон), низкий темновой ток, гибкость в реализации КМОП схемотехники и более низкие производственные затраты позволяют VLA CMOS сенсорам быть конкурентоспособными среди цифровых панелей малых (менее 10х10 см) и среднеформатных (менее 30х30 см) размеров.

        Назад к списку
        Каталог
        Каталог THORLABS
        Каталог Hamamatsu
        Каталог Edmund Optics
        Поставщики
        Компания
        Вакансии
        Проекты
        Контакты
        Полезное
        Статьи
        Новости
        Видео
        Выставки
        Условия сотрудничества
        Правила пользования сайтом
        Карта сайта
        Подписаться на рассылку
        8 (800) 551-20-97
        8 (800) 551-20-97Москва
        +7 (812) 407-10-47Санкт-Петербург
        Заказать звонок
        info@azimp.ru
        Москва, ул. Шаболовка, д. 10,корп.1 помещ. 7/1 (м. Шаболовская)
        2025 © АЗИМУТ ФОТОНИКС