Азимут Фотоникс
Интернет-магазин представительского класса
Каталог
Детекторы излучения
Лазеры и лазерные системы
Лазерные диоды и модули
Камеры и объективы
Контрольно-измерительное оборудование
Источники света
Волоконная оптика
Оптика
Оптомеханика
Обучающие наборы
Программное обеспечение
Микроскопы
Лазерная оптика
Каталог Thorlabs
Визуализация
Системы позиционирования
Оптика
Волоконная оптика
Источники излучения
Анализаторы излучения
Оптические системы
Оптомеханика
Каталог Hamamatsu
Каталог Edmund Optics
Оптика
Лазерная оптика
Микроскопия
Лазеры
Объективы
Камеры
Системы освещения
Тест-объекты
Контрольно-измерительные приборы
Лабораторное оборудование и расходные материалы
Новая продукция
Спецпредложения
Ресерцифицируемые продукты
Оптомеханика
Поставщики
Новости
Статьи
Выставки
Видео
Вебинары и презентации
Демонстрации работы
Каталог Edmund Optics
Каталог Thorlabs
Оптомеханика 3DOptix
ПО 3DOptix
Вакансии
Контакты
О компании
8 (800) 551-20-97
8 (800) 551-20-97Москва
+7 (812) 407-10-47Санкт-Петербург
Заказать звонок
Задать вопрос
Войти
  • Корзина0
  • Отложенные0
Ваш город
Москва
Москва
Алма-Ата
Астана
Великий Новгород
Владивосток
Воронеж
Дубна
Екатеринбург
Ижевск
Иркутск
Казань
Калининград
Краснодар
Красноярск
Минск
Нижний Новгород
Новосибирск
Омск
Пермь
Ростов-на-Дону
Самара
Санкт-Петербург
Саров
Тверь
Томск
Тюмень
Уфа
Челябинск
Черноголовка
info@azimp.ru
Москва, ул. Шаболовка, д. 10,корп.1 помещ. 7/1 (м. Шаболовская)
  • О компании
  • Услуги
  • Новости
  • Статьи
  • Выставки
  • Видео
  • Вакансии
  • Контакты
  • Условия сотрудничества
  • ...
    8 (800) 551-20-97
    8 (800) 551-20-97Москва
    +7 (812) 407-10-47Санкт-Петербург
    Заказать звонок
    ru
    en
    ru
    Войти
    Азимут Фотоникс
    Ваш город
    Москва
    Москва
    Алма-Ата
    Астана
    Великий Новгород
    Владивосток
    Воронеж
    Дубна
    Екатеринбург
    Ижевск
    Иркутск
    Казань
    Калининград
    Краснодар
    Красноярск
    Минск
    Нижний Новгород
    Новосибирск
    Омск
    Пермь
    Ростов-на-Дону
    Самара
    Санкт-Петербург
    Саров
    Тверь
    Томск
    Тюмень
    Уфа
    Челябинск
    Черноголовка
    Каталог
    Детекторы излучения
    Лазеры и лазерные системы
    Лазерные диоды и модули
    Камеры и объективы
    Контрольно-измерительное оборудование
    Источники света
    Волоконная оптика
    Оптика
    Оптомеханика
    Обучающие наборы
    Микроскопы
    Программное обеспечение
    Каталог Hamamatsu
    Каталог Thorlabs
    Каталог Edmund Optics
      • Фотоэлектронные умножители
        • Кремниевые фотоумножители SiPM
        • Модули фотоумножителей
        • Фотоэлектронные умножители Hamamatsu
        • Комплектующие для фотоэлектронных умножителей
      • Фотоприемники и фотодетекторы
        • Высокоскоростные фотоприемники
        • Фотоприемники InGaAs
        • PbSe и PbS фотодетекторы
        • Фотоприемники Hamamatsu
        • Датчики цвета
        • Датчики освещенности
        • Фотодатчики с ИС
        • Датчики изображения
      • Фотодиоды
        • Кремниевые фотодиоды
        • Лавинные фотодиоды
        • Сверхбыстрые фотодиоды
        • InGaAs фотодиоды
        • Ультрафиолетовые фотодиоды
        • PIN фотодиоды
        • Рентгеновские фотодиоды
        • Фотодиодные модули
        • Фотодиодные матрицы
        • Фотодиодные датчики
      • Инфракрасные детекторы
        • Пироэлектрические ИК датчики
        • Детекторы HgCdTe-MCT
        • Детекторы InAsSb и InAs
      • Детекторы на лавинных фотодиодах
      • Детекторы лазерного излучения
        • ТГц детекторы
      • Детекторы рентгеновского и гамма излучения
        • Плоскопанельные детекторы
        • Плоскопанельные детекторы АЗИМУТ ФОТОНИКС
      • Сцинтилляционные детекторы
        • Неорганические сцинтилляторы
        • Органические сцинтилляторы
        • Счетчики Гейгера-Мюллера (газонаполненные детекторы)
      • Позиционно-чувствительные детекторы
      • Детекторные головки
      • Промышленные датчики
        • Датчики линейного перемещения
        • Датчики площади
      • Детекторы для счета фотонов
      • Полупроводниковые детекторы
      • Пироэлектрические датчики
      • Усилители оптического сигнала
        • Предусилители
        • Синхронные усилители
        • Трансимпедансные усилители
        • Усилители аналогового сигнала
        • Усилители напряжения
        • Усилители тока
        • Цифровые усилители с блокировкой
        • Широкополосные усилители
      • Твердотельные лазеры
        • Ультрафиолетовые лазеры
        • Синие лазеры
        • Зеленые лазеры
        • Голубые лазеры
        • Желтые лазеры
        • ИК лазеры
        • Красные лазеры
        • Неодимовые лазеры
        • Полупроводниковые лазеры
        • Фиолетовые лазеры
      • Диодные лазеры
      • Лазерные модули
        • Зеленые лазерные модули
        • Машинное видение
        • ОЕМ применение
      • Пикосекундные лазеры
      • Волоконные лазеры
        • Диодные лазеры непрерывного излучения
        • Иттербиевые волоконные лазеры
      • Импульсные DPSS лазеры
        • Наносекундные диодные лазеры
        • Фемтосекундные лазеры
      • Аксессуары для лазеров
        • Защитные очки
        • Контроллеры
      • Активные среды лазеров
      • Газовые лазеры
        • CO2 лазеры
        • Гелий-неоновые лазеры HeNe
        • Ионные лазеры
      • Защита при работе с лазером
        • Защитные экраны от лазерного излучения
      • Лазерная подсветка
      • Лазерные датчики и дальномеры
      • Лазерные системы
      • Оптические усилители
      • Промышленные лазеры
      • Терагерцовые лазеры
      • Квантовые каскадные лазеры
      • Перестраиваемые лазеры
        • Титан-сапфировые лазеры
      • Лазеры для гравировки / резки на 3D-принтерах / станках с ЧПУ
      • Инфракрасные лазерные диоды
      • Ультрафиолетовые лазерные диоды
      • Зеленые лазерные диоды
      • Импульсные лазерные диоды
      • DFB лазерные источники
      • Лазерные диоды с оптоволоконным выходом
      • VCSEL лазерные диоды
      • Лазерные диоды LD-PD
      • Суперлюминесцентные лазерные диоды
      • Диоды для накачки лазера
      • Одномодовые лазерные диоды
      • Лазерные диоды и линейки
      • Драйверы для лазерных диодов
      • Диодные сборки
      • Объективы для камер
        • Zoom объектив
        • Аксессуары для объектива
        • Апохроматический объектив
        • Вариофокальные объективы
        • Длиннофокусные объективы
        • Кинообъективы
        • Мегапиксельные объективы
        • Моторизованные объективы
        • Объективы C-mount
        • Объективы Kowa
        • Объективы M12
        • Объективы для макросъемки
        • Объективы для систем машинного зрения
        • Объективы для тепловизоров
        • Объективы инфракрасного диапазона
        • Объективы с автоматической регулировкой диафрагмы
        • Телецентрические объективы
        • Фиксированные объективы
        • Широкоугольные объективы
        • Аксессуары для оптики
        • +  ЕЩЕ 10
      • Системы захвата изображения
        • Внешние фрейм-грабберы
        • Встраиваемые фрейм-грабберы
      • Тест-объекты
        • Калибровочная мишень
        • Решетки ронки
      • Камеры
        • Гиперспектральные камеры
        • Мультиспектральные камеры и системы
        • Камеры для БПЛА
        • Камеры инфракрасного диапазона
        • ТГц камеры
        • Высокочувствительные камеры
        • Высокоскоростные камеры
        • Научные камеры
        • Бескорпусные камеры
        • Корпусные камеры
        • Времяпролетные камеры
        • Промышленные камеры
        • Камеры машинного зрения
        • Камеры ночного видения
        • Камеры Contrastech
        • Камеры Lucid
        • Камеры Flir
        • Камеры Watec
        • Камеры Tucsen
        • Гиперспектральные сканеры
        • Комплектующие
        • +  ЕЩЕ 11
      • Контрольно-измерительные приборы
        • Монохроматоры
        • Автоколлиматоры
        • Автокорреляторы
        • Измерители оптической мощности
        • Измерительная электроника
        • Люксметры
        • Оптические рефрактометры
        • Поляриметры
        • Приборы для измерения освещенности
        • Приборы для измерения температуры и тока
        • Приборы Теплера
        • Радиометры
        • Спектрометры
        • Сферометры
        • Терагерцовые приборы
        • Фотометры
        • Эталоны плоскостности
        • Эталоны шероховатости
        • Спектрографы
        • +  ЕЩЕ 9
      • Комплектующие для измерительных приборов
        • BNC терминаторы
        • Кабели для измерительных приборов
        • Корпуса для электроники
        • Крепеж для электроники
        • Печатные платы
        • Системы охлаждения
        • Фильтры низких частот
        • Цифровые приборы, инструменты и расходники
      • Калибровка средств измерений
      • Анализаторы излучения
        • Оценка качества лазерного пучка
      • Анализаторы спектра
        • Анализаторы спектра/сигналов
      • Метрологическое оборудование
      • Генераторы сигналов
      • Интегрирующие сферы
      • Фотометрия
      • Измерительное оборудование Saluki Technology
        • Рефлектометры и оптические инструменты
      • Инфракрасные излучатели
      • Ультрафиолетовые светодиоды
      • Ламповые источники Asahi Spectra
        • Ксеноновые лампы
        • Симуляторы солнечного света
        • Галогенные лампы
        • Дополнительные комплектующие
      • Широкополосные источники Bentham
      • Светодиодные источники
      • Источники света для биофотоники и оптогенетики
      • Контроллеры для светодиодных осветителей
      • Дейтериевые (Д2) лампы
      • Дейтериевые лампы для фотоионизации
      • Ксеноновые и ртутно-ксеноновые лампы
      • Ксеноновые лампы-вспышки
        • Ксеноновые лампы-вспышки мощностью 10 Вт
        • Ксеноновые лампы-вспышки мощностью 15 Вт
        • Ксеноновые лампы-вспышки мощностью 20 Вт
        • Ксеноновые лампы-вспышки мощностью 60 Вт
        • Модули ксеноновых ламп-вспышек мощностью 2 Вт
        • Модули ксеноновых ламп-вспышек мощностью 20 Вт
        • Модули ксеноновых ламп-вспышек мощностью 5 Вт
      • Лампы с полым катодом
      • Юстировочные устройства
        • Мишени для юстировки
        • Юстировочные пластины
      • Источники рентгеновского излучения
        • Источники рентгеновского излучения MOXTEK
        • Источники рентгеновского излучения Micro X-Ray
        • Источники рентгеновского излучения VJ X-Ray
      • Оптические волокна
        • Оптические волокна Nufern
        • Оптические волокна nLIGHT
        • Оптические волокна CorActive
        • Оптические волокна Verrillon
      • Волоконные соединители
      • Обработка оптоволокна
        • Оборудование Vytran Thorlabs
        • Оборудование Fujikura
        • Оборудование для полировки оптоволокна
      • Оптоволоконные жгуты
        • Art Photonics
        • SQS Fiber optics
      • Оптоволоконные кабели
        • Art Photonics
        • Оптоволоконные сборки SQS
      • Оптоволоконные компоненты
        • Герметичные оптоволоконные выводы
        • Зеркала Фарадея
        • Линии задержки
        • Мультиплексоры
        • Оптические трансиверы
        • Оптоволоконные аттенюаторы
        • Оптоволоконные изоляторы
        • Оптоволоконные коллиматоры
        • Оптоволоконные коммутаторы
        • Оптоволоконные разъемы
        • Оптоволоконные решетки
        • Оптоволоконные фазовращатели
        • Оптоволоконные фильтры
        • Оптоволоконные циркуляторы
        • Поляризационные компоненты
        • Поляризационные скремблеры
        • Соединители и разветвители
        • +  ЕЩЕ 7
      • Оптические элементы
        • Оптические фильтры
        • Дифракционная оптика
        • Оптические зеркала
        • Комплектующие для оптических элементов
        • Оптические линзы
        • Оптические призмы
      • Оптические кристаллы
        • Нелинейные кристаллы
        • MgO:PPLN кристаллы
        • Дополнительное оборудование
        • Лазерные кристаллы
        • Двулучепреломляющие кристаллы
        • Подложки и кристаллические пластины
        • Электрооптические кристаллы
      • Оптика на Брэгговских решетках
      • Коллимирующая оптика
      • Уголковые отражатели
      • Рентгеновская оптика
        • Зонные пластины
        • Калибровочные меры Applied Nanotools
      • Оптомеханика АЗИМУТ ФОТОНИКС
      • Оптомеханика Standa
        • Основания, крепления
      • Оптомеханика Physik Instrumente (PI)
      • Оптомеханика Luminos
      • Системы позиционирования
        • Гексаподы
        • Диафрагмы для оптических систем
        • Емкостные датчики
        • Контроллеры для оптомеханики
        • Лабораторные источники питания
        • Механические трансляторы
        • Микрозахваты
        • Моторизированные системы позиционирования
        • Оптические дефлекторы
        • Оптические затворы
        • Позиционеры
        • Приводы и регулирующие элементы
        • Пьезоплатформы
        • Ручные системы позиционирования
        • Системы микропозиционирования
        • Системы нанопозиционирования
        • +  ЕЩЕ 6
      • Тубусные системы
        • Револьверные головки
        • Тубус для линз
      • Установочные элементы
        • Оптические рельсы
        • Кронштейны для оптики
        • Оптические держатели
        • Стержни для держателей оптики
        • Пластины соединительные
        • Адаптеры оптические
        • Крепления для оптики
        • Оптические каркасные системы
        • Платформы оптические
        • Вакуумные компоненты
      • Оптомеханика для работы с лазером
        • Системы управления излучением
        • Визуализаторы лазерного излучения
        • ESD защита от электростатических разрядов
        • Расширитель лазерного пучка
        • Оптические аттенюаторы
        • Пространственные фильтры
        • Крепления лазеров и лазерных диодов
        • Система лазерной накачки
      • Волоконная оптомеханика
      • Расходные материалы для оптомеханики
        • Адгезивы оптические
        • Амортизирующий материал
        • Винты и крепежные элементы
        • Защитный экран для лица
        • Инструменты для работы с оптикой
        • Материалы для работы с оптическими элементами
        • Материалы для работы с оптоволокном
        • Материалы общего назначения
        • Муфты оптические
        • Поглощающий свет материал
        • Система очистки воздуха
        • Сопутствующие материалы
        • +  ЕЩЕ 2
      • Оптические столы и плиты
        • Готовое рабочее место
        • Комплектующие для оснащения рабочего места
        • Оптические плиты
        • Оптические столы
      • Шкафы для хранения
        • Полки для инструментов и приборов
      • Оптомеханика для поляризационной оптики
      • Готовые оптомеханические системы
      • Оптика
      • Основы лазерной физики
      • Применение лазеров
      • Основы светотехники
      • Волоконная оптика
      • Обучающие наборы Thorlabs
      • Рентгеновские детекторы
      • Спектрометры
      • Биологические микроскопы
      • Комплектующие для микроскопов
        • Бинокулярные и тринокулярные насадки для микроскопов
        • Конденсоры для микроскопов
        • Объект-микрометры
        • Окуляр-микрометры
        • Фильтры для микроскопа
      • Компоненты микроскопа
        • Объективы микроскопов
        • Окуляры микроскопа
        • Подсветка для микроскопов
        • Тубусные линзы
        • Тубусы для микроскопов
        • Штативы для микроскопов
      • Лабораторные микроскопы
      • Материалы для работы с микроскопом
        • Кюветы кварцевые
        • Оптические клеи
        • Стекла для микроскопов
        • Увеличительные стекла
        • Экранирующие материалы от электромагнитного излучения
      • Микроскопы Olympus
      • Микроскопы бинокулярные
      • Микроскопы тринокулярные
      • Монокулярные микроскопы
      • Оптические пинцеты
      • Оптические световые микроскопы
        • Иммерсионные микроскопы
        • Инвертированные микроскопы
        • Конфокальные микроскопы
        • Светлопольные микроскопы
        • Темнопольные микроскопы
        • Флуоресцентные микроскопы
      • Портативные микроскопы
      • Промышленные микроскопы
      • Прямые микроскопы
      • Рамановские микроскопы
      • Стереомикроскопы
      • Учебные микроскопы
      • Цифровые USB микроскопы
      • Электронные микроскопы
        • Сканирующие электронные микроскопы
      • Фотодиодные матрицы
      • Кремниевые фотоумножители SiPM
      • Ксеноновые лампы-вспышки
      • Ксеноновые и ртутно-ксеноновые лампы
      • Дейтериевые (Д2) лампы
      • Фотоэлектронные умножители
      • Фотоприемники
      • Детекторы для счета фотонов
      • Визуализация
        Визуализация
      • Системы позиционирования
        Системы позиционирования
      • Оптика
        Оптика
      • Волоконная оптика
        Волоконная оптика
      • Источники излучения
        Источники излучения
      • Анализаторы излучения
        Анализаторы излучения
      • Оптические системы
        Оптические системы
      • Оптомеханика
        Оптомеханика
      • Оптика
      • Лазерная оптика
      • Микроскопия
      • Лазеры
      • Объективы
      • Камеры
      • Системы освещения
      • Тест-объекты
      • Контрольно-измерительные приборы
      • Лабораторное оборудование и расходные материалы
      • Оптомеханика
    Каталог Thorlabs
    Визуализация
    Системы позиционирования
    Оптика
    Волоконная оптика
    Источники излучения
    Анализаторы излучения
    Оптические системы
    Оптомеханика
    Каталог Hamamatsu
    Каталог Edmund Optics
    Оптика
    Лазерная оптика
    Микроскопия
    Лазеры
    Объективы
    Камеры
    Системы освещения
    Тест-объекты
    Контрольно-измерительные приборы
    Лабораторное оборудование и расходные материалы
    Новая продукция
    Спецпредложения
    Ресерцифицируемые продукты
    Оптомеханика
    Поставщики
    Проекты
    • Спектроскопия
    +  ЕЩЕ
      Азимут Фотоникс
      Каталог
      Детекторы излучения
      Лазеры и лазерные системы
      Лазерные диоды и модули
      Камеры и объективы
      Контрольно-измерительное оборудование
      Источники света
      Волоконная оптика
      Оптика
      Оптомеханика
      Обучающие наборы
      Микроскопы
      Программное обеспечение
      Каталог Hamamatsu
      Каталог Thorlabs
      Каталог Edmund Optics
        • Фотоэлектронные умножители
          • Кремниевые фотоумножители SiPM
          • Модули фотоумножителей
          • Фотоэлектронные умножители Hamamatsu
          • Комплектующие для фотоэлектронных умножителей
        • Фотоприемники и фотодетекторы
          • Высокоскоростные фотоприемники
          • Фотоприемники InGaAs
          • PbSe и PbS фотодетекторы
          • Фотоприемники Hamamatsu
          • Датчики цвета
          • Датчики освещенности
          • Фотодатчики с ИС
          • Датчики изображения
        • Фотодиоды
          • Кремниевые фотодиоды
          • Лавинные фотодиоды
          • Сверхбыстрые фотодиоды
          • InGaAs фотодиоды
          • Ультрафиолетовые фотодиоды
          • PIN фотодиоды
          • Рентгеновские фотодиоды
          • Фотодиодные модули
          • Фотодиодные матрицы
          • Фотодиодные датчики
        • Инфракрасные детекторы
          • Пироэлектрические ИК датчики
          • Детекторы HgCdTe-MCT
          • Детекторы InAsSb и InAs
        • Детекторы на лавинных фотодиодах
        • Детекторы лазерного излучения
          • ТГц детекторы
        • Детекторы рентгеновского и гамма излучения
          • Плоскопанельные детекторы
          • Плоскопанельные детекторы АЗИМУТ ФОТОНИКС
        • Сцинтилляционные детекторы
          • Неорганические сцинтилляторы
          • Органические сцинтилляторы
          • Счетчики Гейгера-Мюллера (газонаполненные детекторы)
        • Позиционно-чувствительные детекторы
        • Детекторные головки
        • Промышленные датчики
          • Датчики линейного перемещения
          • Датчики площади
        • Детекторы для счета фотонов
        • Полупроводниковые детекторы
        • Пироэлектрические датчики
        • Усилители оптического сигнала
          • Предусилители
          • Синхронные усилители
          • Трансимпедансные усилители
          • Усилители аналогового сигнала
          • Усилители напряжения
          • Усилители тока
          • Цифровые усилители с блокировкой
          • Широкополосные усилители
        • Твердотельные лазеры
          • Ультрафиолетовые лазеры
          • Синие лазеры
          • Зеленые лазеры
          • Голубые лазеры
          • Желтые лазеры
          • ИК лазеры
          • Красные лазеры
          • Неодимовые лазеры
          • Полупроводниковые лазеры
          • Фиолетовые лазеры
        • Диодные лазеры
        • Лазерные модули
          • Зеленые лазерные модули
          • Машинное видение
          • ОЕМ применение
        • Пикосекундные лазеры
        • Волоконные лазеры
          • Диодные лазеры непрерывного излучения
          • Иттербиевые волоконные лазеры
        • Импульсные DPSS лазеры
          • Наносекундные диодные лазеры
          • Фемтосекундные лазеры
        • Аксессуары для лазеров
          • Защитные очки
          • Контроллеры
        • Активные среды лазеров
        • Газовые лазеры
          • CO2 лазеры
          • Гелий-неоновые лазеры HeNe
          • Ионные лазеры
        • Защита при работе с лазером
          • Защитные экраны от лазерного излучения
        • Лазерная подсветка
        • Лазерные датчики и дальномеры
        • Лазерные системы
        • Оптические усилители
        • Промышленные лазеры
        • Терагерцовые лазеры
        • Квантовые каскадные лазеры
        • Перестраиваемые лазеры
          • Титан-сапфировые лазеры
        • Лазеры для гравировки / резки на 3D-принтерах / станках с ЧПУ
        • Инфракрасные лазерные диоды
        • Ультрафиолетовые лазерные диоды
        • Зеленые лазерные диоды
        • Импульсные лазерные диоды
        • DFB лазерные источники
        • Лазерные диоды с оптоволоконным выходом
        • VCSEL лазерные диоды
        • Лазерные диоды LD-PD
        • Суперлюминесцентные лазерные диоды
        • Диоды для накачки лазера
        • Одномодовые лазерные диоды
        • Лазерные диоды и линейки
        • Драйверы для лазерных диодов
        • Диодные сборки
        • Объективы для камер
          • Zoom объектив
          • Аксессуары для объектива
          • Апохроматический объектив
          • Вариофокальные объективы
          • Длиннофокусные объективы
          • Кинообъективы
          • Мегапиксельные объективы
          • Моторизованные объективы
          • Объективы C-mount
          • Объективы Kowa
          • Объективы M12
          • Объективы для макросъемки
          • Объективы для систем машинного зрения
          • Объективы для тепловизоров
          • Объективы инфракрасного диапазона
          • Объективы с автоматической регулировкой диафрагмы
          • Телецентрические объективы
          • Фиксированные объективы
          • Широкоугольные объективы
          • Аксессуары для оптики
          • +  ЕЩЕ 10
        • Системы захвата изображения
          • Внешние фрейм-грабберы
          • Встраиваемые фрейм-грабберы
        • Тест-объекты
          • Калибровочная мишень
          • Решетки ронки
        • Камеры
          • Гиперспектральные камеры
          • Мультиспектральные камеры и системы
          • Камеры для БПЛА
          • Камеры инфракрасного диапазона
          • ТГц камеры
          • Высокочувствительные камеры
          • Высокоскоростные камеры
          • Научные камеры
          • Бескорпусные камеры
          • Корпусные камеры
          • Времяпролетные камеры
          • Промышленные камеры
          • Камеры машинного зрения
          • Камеры ночного видения
          • Камеры Contrastech
          • Камеры Lucid
          • Камеры Flir
          • Камеры Watec
          • Камеры Tucsen
          • Гиперспектральные сканеры
          • Комплектующие
          • +  ЕЩЕ 11
        • Контрольно-измерительные приборы
          • Монохроматоры
          • Автоколлиматоры
          • Автокорреляторы
          • Измерители оптической мощности
          • Измерительная электроника
          • Люксметры
          • Оптические рефрактометры
          • Поляриметры
          • Приборы для измерения освещенности
          • Приборы для измерения температуры и тока
          • Приборы Теплера
          • Радиометры
          • Спектрометры
          • Сферометры
          • Терагерцовые приборы
          • Фотометры
          • Эталоны плоскостности
          • Эталоны шероховатости
          • Спектрографы
          • +  ЕЩЕ 9
        • Комплектующие для измерительных приборов
          • BNC терминаторы
          • Кабели для измерительных приборов
          • Корпуса для электроники
          • Крепеж для электроники
          • Печатные платы
          • Системы охлаждения
          • Фильтры низких частот
          • Цифровые приборы, инструменты и расходники
        • Калибровка средств измерений
        • Анализаторы излучения
          • Оценка качества лазерного пучка
        • Анализаторы спектра
          • Анализаторы спектра/сигналов
        • Метрологическое оборудование
        • Генераторы сигналов
        • Интегрирующие сферы
        • Фотометрия
        • Измерительное оборудование Saluki Technology
          • Рефлектометры и оптические инструменты
        • Инфракрасные излучатели
        • Ультрафиолетовые светодиоды
        • Ламповые источники Asahi Spectra
          • Ксеноновые лампы
          • Симуляторы солнечного света
          • Галогенные лампы
          • Дополнительные комплектующие
        • Широкополосные источники Bentham
        • Светодиодные источники
        • Источники света для биофотоники и оптогенетики
        • Контроллеры для светодиодных осветителей
        • Дейтериевые (Д2) лампы
        • Дейтериевые лампы для фотоионизации
        • Ксеноновые и ртутно-ксеноновые лампы
        • Ксеноновые лампы-вспышки
          • Ксеноновые лампы-вспышки мощностью 10 Вт
          • Ксеноновые лампы-вспышки мощностью 15 Вт
          • Ксеноновые лампы-вспышки мощностью 20 Вт
          • Ксеноновые лампы-вспышки мощностью 60 Вт
          • Модули ксеноновых ламп-вспышек мощностью 2 Вт
          • Модули ксеноновых ламп-вспышек мощностью 20 Вт
          • Модули ксеноновых ламп-вспышек мощностью 5 Вт
        • Лампы с полым катодом
        • Юстировочные устройства
          • Мишени для юстировки
          • Юстировочные пластины
        • Источники рентгеновского излучения
          • Источники рентгеновского излучения MOXTEK
          • Источники рентгеновского излучения Micro X-Ray
          • Источники рентгеновского излучения VJ X-Ray
        • Оптические волокна
          • Оптические волокна Nufern
          • Оптические волокна nLIGHT
          • Оптические волокна CorActive
          • Оптические волокна Verrillon
        • Волоконные соединители
        • Обработка оптоволокна
          • Оборудование Vytran Thorlabs
          • Оборудование Fujikura
          • Оборудование для полировки оптоволокна
        • Оптоволоконные жгуты
          • Art Photonics
          • SQS Fiber optics
        • Оптоволоконные кабели
          • Art Photonics
          • Оптоволоконные сборки SQS
        • Оптоволоконные компоненты
          • Герметичные оптоволоконные выводы
          • Зеркала Фарадея
          • Линии задержки
          • Мультиплексоры
          • Оптические трансиверы
          • Оптоволоконные аттенюаторы
          • Оптоволоконные изоляторы
          • Оптоволоконные коллиматоры
          • Оптоволоконные коммутаторы
          • Оптоволоконные разъемы
          • Оптоволоконные решетки
          • Оптоволоконные фазовращатели
          • Оптоволоконные фильтры
          • Оптоволоконные циркуляторы
          • Поляризационные компоненты
          • Поляризационные скремблеры
          • Соединители и разветвители
          • +  ЕЩЕ 7
        • Оптические элементы
          • Оптические фильтры
          • Дифракционная оптика
          • Оптические зеркала
          • Комплектующие для оптических элементов
          • Оптические линзы
          • Оптические призмы
        • Оптические кристаллы
          • Нелинейные кристаллы
          • MgO:PPLN кристаллы
          • Дополнительное оборудование
          • Лазерные кристаллы
          • Двулучепреломляющие кристаллы
          • Подложки и кристаллические пластины
          • Электрооптические кристаллы
        • Оптика на Брэгговских решетках
        • Коллимирующая оптика
        • Уголковые отражатели
        • Рентгеновская оптика
          • Зонные пластины
          • Калибровочные меры Applied Nanotools
        • Оптомеханика АЗИМУТ ФОТОНИКС
        • Оптомеханика Standa
          • Основания, крепления
        • Оптомеханика Physik Instrumente (PI)
        • Оптомеханика Luminos
        • Системы позиционирования
          • Гексаподы
          • Диафрагмы для оптических систем
          • Емкостные датчики
          • Контроллеры для оптомеханики
          • Лабораторные источники питания
          • Механические трансляторы
          • Микрозахваты
          • Моторизированные системы позиционирования
          • Оптические дефлекторы
          • Оптические затворы
          • Позиционеры
          • Приводы и регулирующие элементы
          • Пьезоплатформы
          • Ручные системы позиционирования
          • Системы микропозиционирования
          • Системы нанопозиционирования
          • +  ЕЩЕ 6
        • Тубусные системы
          • Револьверные головки
          • Тубус для линз
        • Установочные элементы
          • Оптические рельсы
          • Кронштейны для оптики
          • Оптические держатели
          • Стержни для держателей оптики
          • Пластины соединительные
          • Адаптеры оптические
          • Крепления для оптики
          • Оптические каркасные системы
          • Платформы оптические
          • Вакуумные компоненты
        • Оптомеханика для работы с лазером
          • Системы управления излучением
          • Визуализаторы лазерного излучения
          • ESD защита от электростатических разрядов
          • Расширитель лазерного пучка
          • Оптические аттенюаторы
          • Пространственные фильтры
          • Крепления лазеров и лазерных диодов
          • Система лазерной накачки
        • Волоконная оптомеханика
        • Расходные материалы для оптомеханики
          • Адгезивы оптические
          • Амортизирующий материал
          • Винты и крепежные элементы
          • Защитный экран для лица
          • Инструменты для работы с оптикой
          • Материалы для работы с оптическими элементами
          • Материалы для работы с оптоволокном
          • Материалы общего назначения
          • Муфты оптические
          • Поглощающий свет материал
          • Система очистки воздуха
          • Сопутствующие материалы
          • +  ЕЩЕ 2
        • Оптические столы и плиты
          • Готовое рабочее место
          • Комплектующие для оснащения рабочего места
          • Оптические плиты
          • Оптические столы
        • Шкафы для хранения
          • Полки для инструментов и приборов
        • Оптомеханика для поляризационной оптики
        • Готовые оптомеханические системы
        • Оптика
        • Основы лазерной физики
        • Применение лазеров
        • Основы светотехники
        • Волоконная оптика
        • Обучающие наборы Thorlabs
        • Рентгеновские детекторы
        • Спектрометры
        • Биологические микроскопы
        • Комплектующие для микроскопов
          • Бинокулярные и тринокулярные насадки для микроскопов
          • Конденсоры для микроскопов
          • Объект-микрометры
          • Окуляр-микрометры
          • Фильтры для микроскопа
        • Компоненты микроскопа
          • Объективы микроскопов
          • Окуляры микроскопа
          • Подсветка для микроскопов
          • Тубусные линзы
          • Тубусы для микроскопов
          • Штативы для микроскопов
        • Лабораторные микроскопы
        • Материалы для работы с микроскопом
          • Кюветы кварцевые
          • Оптические клеи
          • Стекла для микроскопов
          • Увеличительные стекла
          • Экранирующие материалы от электромагнитного излучения
        • Микроскопы Olympus
        • Микроскопы бинокулярные
        • Микроскопы тринокулярные
        • Монокулярные микроскопы
        • Оптические пинцеты
        • Оптические световые микроскопы
          • Иммерсионные микроскопы
          • Инвертированные микроскопы
          • Конфокальные микроскопы
          • Светлопольные микроскопы
          • Темнопольные микроскопы
          • Флуоресцентные микроскопы
        • Портативные микроскопы
        • Промышленные микроскопы
        • Прямые микроскопы
        • Рамановские микроскопы
        • Стереомикроскопы
        • Учебные микроскопы
        • Цифровые USB микроскопы
        • Электронные микроскопы
          • Сканирующие электронные микроскопы
        • Фотодиодные матрицы
        • Кремниевые фотоумножители SiPM
        • Ксеноновые лампы-вспышки
        • Ксеноновые и ртутно-ксеноновые лампы
        • Дейтериевые (Д2) лампы
        • Фотоэлектронные умножители
        • Фотоприемники
        • Детекторы для счета фотонов
        • Визуализация
          Визуализация
        • Системы позиционирования
          Системы позиционирования
        • Оптика
          Оптика
        • Волоконная оптика
          Волоконная оптика
        • Источники излучения
          Источники излучения
        • Анализаторы излучения
          Анализаторы излучения
        • Оптические системы
          Оптические системы
        • Оптомеханика
          Оптомеханика
        • Оптика
        • Лазерная оптика
        • Микроскопия
        • Лазеры
        • Объективы
        • Камеры
        • Системы освещения
        • Тест-объекты
        • Контрольно-измерительные приборы
        • Лабораторное оборудование и расходные материалы
        • Оптомеханика
      Каталог Thorlabs
      Визуализация
      Системы позиционирования
      Оптика
      Волоконная оптика
      Источники излучения
      Анализаторы излучения
      Оптические системы
      Оптомеханика
      Каталог Hamamatsu
      Каталог Edmund Optics
      Оптика
      Лазерная оптика
      Микроскопия
      Лазеры
      Объективы
      Камеры
      Системы освещения
      Тест-объекты
      Контрольно-измерительные приборы
      Лабораторное оборудование и расходные материалы
      Новая продукция
      Спецпредложения
      Ресерцифицируемые продукты
      Оптомеханика
      Поставщики
      Новости
      Статьи
      Выставки
      Видео
      • Вебинары и презентации
      • Демонстрации работы
      • Каталог Edmund Optics
      • Каталог Thorlabs
      • Оптомеханика 3DOptix
      • ПО 3DOptix
      Вакансии
      Контакты
      О компании
      +  ЕЩЕ
        ru
        en
        ru
        Азимут Фотоникс
        Телефоны
        8 (800) 551-20-97
        +7 (812) 407-10-47Санкт-Петербург
        Заказать звонок
        • Каталог
          • Назад
          • Каталог
          • Детекторы излучения
            • Назад
            • Детекторы излучения
            • Фотоэлектронные умножители
              • Назад
              • Фотоэлектронные умножители
              • Кремниевые фотоумножители SiPM
              • Модули фотоумножителей
              • Фотоэлектронные умножители Hamamatsu
              • Комплектующие для фотоэлектронных умножителей
            • Фотоприемники и фотодетекторы
              • Назад
              • Фотоприемники и фотодетекторы
              • Высокоскоростные фотоприемники
              • Фотоприемники InGaAs
              • PbSe и PbS фотодетекторы
              • Фотоприемники Hamamatsu
              • Датчики цвета
              • Датчики освещенности
              • Фотодатчики с ИС
              • Датчики изображения
            • Фотодиоды
              • Назад
              • Фотодиоды
              • Кремниевые фотодиоды
              • Лавинные фотодиоды
              • Сверхбыстрые фотодиоды
              • InGaAs фотодиоды
              • Ультрафиолетовые фотодиоды
              • PIN фотодиоды
              • Рентгеновские фотодиоды
              • Фотодиодные модули
              • Фотодиодные матрицы
              • Фотодиодные датчики
            • Инфракрасные детекторы
              • Назад
              • Инфракрасные детекторы
              • Пироэлектрические ИК датчики
              • Детекторы HgCdTe-MCT
              • Детекторы InAsSb и InAs
            • Детекторы на лавинных фотодиодах
            • Детекторы лазерного излучения
              • Назад
              • Детекторы лазерного излучения
              • ТГц детекторы
            • Детекторы рентгеновского и гамма излучения
              • Назад
              • Детекторы рентгеновского и гамма излучения
              • Плоскопанельные детекторы
              • Плоскопанельные детекторы АЗИМУТ ФОТОНИКС
            • Сцинтилляционные детекторы
              • Назад
              • Сцинтилляционные детекторы
              • Неорганические сцинтилляторы
              • Органические сцинтилляторы
              • Счетчики Гейгера-Мюллера (газонаполненные детекторы)
            • Позиционно-чувствительные детекторы
            • Детекторные головки
            • Промышленные датчики
              • Назад
              • Промышленные датчики
              • Датчики линейного перемещения
              • Датчики площади
            • Детекторы для счета фотонов
            • Полупроводниковые детекторы
            • Пироэлектрические датчики
            • Усилители оптического сигнала
              • Назад
              • Усилители оптического сигнала
              • Предусилители
              • Синхронные усилители
              • Трансимпедансные усилители
              • Усилители аналогового сигнала
              • Усилители напряжения
              • Усилители тока
              • Цифровые усилители с блокировкой
              • Широкополосные усилители
          • Лазеры и лазерные системы
            • Назад
            • Лазеры и лазерные системы
            • Твердотельные лазеры
              • Назад
              • Твердотельные лазеры
              • Ультрафиолетовые лазеры
              • Синие лазеры
              • Зеленые лазеры
              • Голубые лазеры
              • Желтые лазеры
              • ИК лазеры
              • Красные лазеры
              • Неодимовые лазеры
              • Полупроводниковые лазеры
              • Фиолетовые лазеры
            • Диодные лазеры
            • Лазерные модули
              • Назад
              • Лазерные модули
              • Зеленые лазерные модули
              • Машинное видение
              • ОЕМ применение
            • Пикосекундные лазеры
            • Волоконные лазеры
              • Назад
              • Волоконные лазеры
              • Диодные лазеры непрерывного излучения
              • Иттербиевые волоконные лазеры
            • Импульсные DPSS лазеры
              • Назад
              • Импульсные DPSS лазеры
              • Наносекундные диодные лазеры
              • Фемтосекундные лазеры
            • Аксессуары для лазеров
              • Назад
              • Аксессуары для лазеров
              • Защитные очки
              • Контроллеры
            • Активные среды лазеров
            • Газовые лазеры
              • Назад
              • Газовые лазеры
              • CO2 лазеры
              • Гелий-неоновые лазеры HeNe
              • Ионные лазеры
            • Защита при работе с лазером
              • Назад
              • Защита при работе с лазером
              • Защитные экраны от лазерного излучения
            • Лазерная подсветка
            • Лазерные датчики и дальномеры
            • Лазерные системы
            • Оптические усилители
            • Промышленные лазеры
            • Терагерцовые лазеры
            • Квантовые каскадные лазеры
            • Перестраиваемые лазеры
              • Назад
              • Перестраиваемые лазеры
              • Титан-сапфировые лазеры
            • Лазеры для гравировки / резки на 3D-принтерах / станках с ЧПУ
          • Лазерные диоды и модули
            • Назад
            • Лазерные диоды и модули
            • Инфракрасные лазерные диоды
            • Ультрафиолетовые лазерные диоды
            • Зеленые лазерные диоды
            • Импульсные лазерные диоды
            • DFB лазерные источники
            • Лазерные диоды с оптоволоконным выходом
            • VCSEL лазерные диоды
            • Лазерные диоды LD-PD
            • Суперлюминесцентные лазерные диоды
            • Диоды для накачки лазера
            • Одномодовые лазерные диоды
            • Лазерные диоды и линейки
            • Драйверы для лазерных диодов
            • Диодные сборки
          • Камеры и объективы
            • Назад
            • Камеры и объективы
            • Объективы для камер
              • Назад
              • Объективы для камер
              • Zoom объектив
              • Аксессуары для объектива
              • Апохроматический объектив
              • Вариофокальные объективы
              • Длиннофокусные объективы
              • Кинообъективы
              • Мегапиксельные объективы
              • Моторизованные объективы
              • Объективы C-mount
              • Объективы Kowa
              • Объективы M12
              • Объективы для макросъемки
              • Объективы для систем машинного зрения
              • Объективы для тепловизоров
              • Объективы инфракрасного диапазона
              • Объективы с автоматической регулировкой диафрагмы
              • Телецентрические объективы
              • Фиксированные объективы
              • Широкоугольные объективы
              • Аксессуары для оптики
            • Системы захвата изображения
              • Назад
              • Системы захвата изображения
              • Внешние фрейм-грабберы
              • Встраиваемые фрейм-грабберы
            • Тест-объекты
              • Назад
              • Тест-объекты
              • Калибровочная мишень
              • Решетки ронки
            • Камеры
              • Назад
              • Камеры
              • Гиперспектральные камеры
              • Мультиспектральные камеры и системы
              • Камеры для БПЛА
              • Камеры инфракрасного диапазона
              • ТГц камеры
              • Высокочувствительные камеры
              • Высокоскоростные камеры
              • Научные камеры
              • Бескорпусные камеры
              • Корпусные камеры
              • Времяпролетные камеры
              • Промышленные камеры
              • Камеры машинного зрения
              • Камеры ночного видения
              • Камеры Contrastech
              • Камеры Lucid
              • Камеры Flir
              • Камеры Watec
              • Камеры Tucsen
              • Гиперспектральные сканеры
              • Комплектующие
          • Контрольно-измерительное оборудование
            • Назад
            • Контрольно-измерительное оборудование
            • Контрольно-измерительные приборы
              • Назад
              • Контрольно-измерительные приборы
              • Монохроматоры
              • Автоколлиматоры
              • Автокорреляторы
              • Измерители оптической мощности
              • Измерительная электроника
              • Люксметры
              • Оптические рефрактометры
              • Поляриметры
              • Приборы для измерения освещенности
              • Приборы для измерения температуры и тока
              • Приборы Теплера
              • Радиометры
              • Спектрометры
              • Сферометры
              • Терагерцовые приборы
              • Фотометры
              • Эталоны плоскостности
              • Эталоны шероховатости
              • Спектрографы
            • Комплектующие для измерительных приборов
              • Назад
              • Комплектующие для измерительных приборов
              • BNC терминаторы
              • Кабели для измерительных приборов
              • Корпуса для электроники
              • Крепеж для электроники
              • Печатные платы
              • Системы охлаждения
              • Фильтры низких частот
              • Цифровые приборы, инструменты и расходники
            • Калибровка средств измерений
            • Анализаторы излучения
              • Назад
              • Анализаторы излучения
              • Оценка качества лазерного пучка
            • Анализаторы спектра
              • Назад
              • Анализаторы спектра
              • Анализаторы спектра/сигналов
            • Метрологическое оборудование
            • Генераторы сигналов
            • Интегрирующие сферы
            • Фотометрия
            • Измерительное оборудование Saluki Technology
              • Назад
              • Измерительное оборудование Saluki Technology
              • Рефлектометры и оптические инструменты
          • Источники света
            • Назад
            • Источники света
            • Инфракрасные излучатели
            • Ультрафиолетовые светодиоды
            • Ламповые источники Asahi Spectra
              • Назад
              • Ламповые источники Asahi Spectra
              • Ксеноновые лампы
              • Симуляторы солнечного света
              • Галогенные лампы
              • Дополнительные комплектующие
            • Широкополосные источники Bentham
            • Светодиодные источники
            • Источники света для биофотоники и оптогенетики
            • Контроллеры для светодиодных осветителей
            • Дейтериевые (Д2) лампы
            • Дейтериевые лампы для фотоионизации
            • Ксеноновые и ртутно-ксеноновые лампы
            • Ксеноновые лампы-вспышки
              • Назад
              • Ксеноновые лампы-вспышки
              • Ксеноновые лампы-вспышки мощностью 10 Вт
              • Ксеноновые лампы-вспышки мощностью 15 Вт
              • Ксеноновые лампы-вспышки мощностью 20 Вт
              • Ксеноновые лампы-вспышки мощностью 60 Вт
              • Модули ксеноновых ламп-вспышек мощностью 2 Вт
              • Модули ксеноновых ламп-вспышек мощностью 20 Вт
              • Модули ксеноновых ламп-вспышек мощностью 5 Вт
            • Лампы с полым катодом
            • Юстировочные устройства
              • Назад
              • Юстировочные устройства
              • Мишени для юстировки
              • Юстировочные пластины
            • Источники рентгеновского излучения
              • Назад
              • Источники рентгеновского излучения
              • Источники рентгеновского излучения MOXTEK
              • Источники рентгеновского излучения Micro X-Ray
              • Источники рентгеновского излучения VJ X-Ray
          • Волоконная оптика
            • Назад
            • Волоконная оптика
            • Оптические волокна
              • Назад
              • Оптические волокна
              • Оптические волокна Nufern
              • Оптические волокна nLIGHT
              • Оптические волокна CorActive
              • Оптические волокна Verrillon
            • Волоконные соединители
            • Обработка оптоволокна
              • Назад
              • Обработка оптоволокна
              • Оборудование Vytran Thorlabs
              • Оборудование Fujikura
              • Оборудование для полировки оптоволокна
            • Оптоволоконные жгуты
              • Назад
              • Оптоволоконные жгуты
              • Art Photonics
              • SQS Fiber optics
            • Оптоволоконные кабели
              • Назад
              • Оптоволоконные кабели
              • Art Photonics
              • Оптоволоконные сборки SQS
            • Оптоволоконные компоненты
              • Назад
              • Оптоволоконные компоненты
              • Герметичные оптоволоконные выводы
              • Зеркала Фарадея
              • Линии задержки
              • Мультиплексоры
              • Оптические трансиверы
              • Оптоволоконные аттенюаторы
              • Оптоволоконные изоляторы
              • Оптоволоконные коллиматоры
              • Оптоволоконные коммутаторы
              • Оптоволоконные разъемы
              • Оптоволоконные решетки
              • Оптоволоконные фазовращатели
              • Оптоволоконные фильтры
              • Оптоволоконные циркуляторы
              • Поляризационные компоненты
              • Поляризационные скремблеры
              • Соединители и разветвители
          • Оптика
            • Назад
            • Оптика
            • Оптические элементы
              • Назад
              • Оптические элементы
              • Оптические фильтры
              • Дифракционная оптика
              • Оптические зеркала
              • Комплектующие для оптических элементов
              • Оптические линзы
              • Оптические призмы
            • Оптические кристаллы
              • Назад
              • Оптические кристаллы
              • Нелинейные кристаллы
              • MgO:PPLN кристаллы
              • Дополнительное оборудование
              • Лазерные кристаллы
              • Двулучепреломляющие кристаллы
              • Подложки и кристаллические пластины
              • Электрооптические кристаллы
            • Оптика на Брэгговских решетках
            • Коллимирующая оптика
            • Уголковые отражатели
            • Рентгеновская оптика
              • Назад
              • Рентгеновская оптика
              • Зонные пластины
              • Калибровочные меры Applied Nanotools
          • Оптомеханика
            • Назад
            • Оптомеханика
            • Оптомеханика АЗИМУТ ФОТОНИКС
            • Оптомеханика Standa
              • Назад
              • Оптомеханика Standa
              • Основания, крепления
            • Оптомеханика Physik Instrumente (PI)
            • Оптомеханика Luminos
            • Системы позиционирования
              • Назад
              • Системы позиционирования
              • Гексаподы
              • Диафрагмы для оптических систем
              • Емкостные датчики
              • Контроллеры для оптомеханики
              • Лабораторные источники питания
              • Механические трансляторы
              • Микрозахваты
              • Моторизированные системы позиционирования
              • Оптические дефлекторы
              • Оптические затворы
              • Позиционеры
              • Приводы и регулирующие элементы
              • Пьезоплатформы
              • Ручные системы позиционирования
              • Системы микропозиционирования
              • Системы нанопозиционирования
            • Тубусные системы
              • Назад
              • Тубусные системы
              • Револьверные головки
              • Тубус для линз
            • Установочные элементы
              • Назад
              • Установочные элементы
              • Оптические рельсы
              • Кронштейны для оптики
              • Оптические держатели
              • Стержни для держателей оптики
              • Пластины соединительные
              • Адаптеры оптические
              • Крепления для оптики
              • Оптические каркасные системы
              • Платформы оптические
              • Вакуумные компоненты
            • Оптомеханика для работы с лазером
              • Назад
              • Оптомеханика для работы с лазером
              • Системы управления излучением
              • Визуализаторы лазерного излучения
              • ESD защита от электростатических разрядов
              • Расширитель лазерного пучка
              • Оптические аттенюаторы
              • Пространственные фильтры
              • Крепления лазеров и лазерных диодов
              • Система лазерной накачки
            • Волоконная оптомеханика
            • Расходные материалы для оптомеханики
              • Назад
              • Расходные материалы для оптомеханики
              • Адгезивы оптические
              • Амортизирующий материал
              • Винты и крепежные элементы
              • Защитный экран для лица
              • Инструменты для работы с оптикой
              • Материалы для работы с оптическими элементами
              • Материалы для работы с оптоволокном
              • Материалы общего назначения
              • Муфты оптические
              • Поглощающий свет материал
              • Система очистки воздуха
              • Сопутствующие материалы
            • Оптические столы и плиты
              • Назад
              • Оптические столы и плиты
              • Готовое рабочее место
              • Комплектующие для оснащения рабочего места
              • Оптические плиты
              • Оптические столы
            • Шкафы для хранения
              • Назад
              • Шкафы для хранения
              • Полки для инструментов и приборов
            • Оптомеханика для поляризационной оптики
            • Готовые оптомеханические системы
          • Обучающие наборы
            • Назад
            • Обучающие наборы
            • Оптика
            • Основы лазерной физики
            • Применение лазеров
            • Основы светотехники
            • Волоконная оптика
            • Обучающие наборы Thorlabs
            • Рентгеновские детекторы
            • Спектрометры
          • Микроскопы
            • Назад
            • Микроскопы
            • Биологические микроскопы
            • Комплектующие для микроскопов
              • Назад
              • Комплектующие для микроскопов
              • Бинокулярные и тринокулярные насадки для микроскопов
              • Конденсоры для микроскопов
              • Объект-микрометры
              • Окуляр-микрометры
              • Фильтры для микроскопа
            • Компоненты микроскопа
              • Назад
              • Компоненты микроскопа
              • Объективы микроскопов
              • Окуляры микроскопа
              • Подсветка для микроскопов
              • Тубусные линзы
              • Тубусы для микроскопов
              • Штативы для микроскопов
            • Лабораторные микроскопы
            • Материалы для работы с микроскопом
              • Назад
              • Материалы для работы с микроскопом
              • Кюветы кварцевые
              • Оптические клеи
              • Стекла для микроскопов
              • Увеличительные стекла
              • Экранирующие материалы от электромагнитного излучения
            • Микроскопы Olympus
            • Микроскопы бинокулярные
            • Микроскопы тринокулярные
            • Монокулярные микроскопы
            • Оптические пинцеты
            • Оптические световые микроскопы
              • Назад
              • Оптические световые микроскопы
              • Иммерсионные микроскопы
              • Инвертированные микроскопы
              • Конфокальные микроскопы
              • Светлопольные микроскопы
              • Темнопольные микроскопы
              • Флуоресцентные микроскопы
            • Портативные микроскопы
            • Промышленные микроскопы
            • Прямые микроскопы
            • Рамановские микроскопы
            • Стереомикроскопы
            • Учебные микроскопы
            • Цифровые USB микроскопы
            • Электронные микроскопы
              • Назад
              • Электронные микроскопы
              • Сканирующие электронные микроскопы
          • Программное обеспечение
          • Каталог Hamamatsu
            • Назад
            • Каталог Hamamatsu
            • Фотодиодные матрицы
            • Кремниевые фотоумножители SiPM
            • Ксеноновые лампы-вспышки
            • Ксеноновые и ртутно-ксеноновые лампы
            • Дейтериевые (Д2) лампы
            • Фотоэлектронные умножители
            • Фотоприемники
            • Детекторы для счета фотонов
          • Каталог Thorlabs
            • Назад
            • Каталог Thorlabs
            • Визуализация
            • Системы позиционирования
            • Оптика
            • Волоконная оптика
            • Источники излучения
            • Анализаторы излучения
            • Оптические системы
            • Оптомеханика
          • Каталог Edmund Optics
            • Назад
            • Каталог Edmund Optics
            • Оптика
            • Лазерная оптика
            • Микроскопия
            • Лазеры
            • Объективы
            • Камеры
            • Системы освещения
            • Тест-объекты
            • Контрольно-измерительные приборы
            • Лабораторное оборудование и расходные материалы
            • Оптомеханика
        • Каталог Thorlabs
          • Назад
          • Каталог Thorlabs
          • Визуализация
          • Системы позиционирования
          • Оптика
          • Волоконная оптика
          • Источники излучения
          • Анализаторы излучения
          • Оптические системы
          • Оптомеханика
        • Каталог Hamamatsu
        • Каталог Edmund Optics
          • Назад
          • Каталог Edmund Optics
          • Оптика
          • Лазерная оптика
          • Микроскопия
          • Лазеры
          • Объективы
          • Камеры
          • Системы освещения
          • Тест-объекты
          • Контрольно-измерительные приборы
          • Лабораторное оборудование и расходные материалы
          • Новая продукция
          • Спецпредложения
          • Ресерцифицируемые продукты
          • Оптомеханика
        • Поставщики
        • Новости
        • Статьи
        • Выставки
        • Видео
          • Назад
          • Видео
          • Вебинары и презентации
          • Демонстрации работы
          • Каталог Edmund Optics
          • Каталог Thorlabs
          • Оптомеханика 3DOptix
          • ПО 3DOptix
        • Вакансии
        • Контакты
        • О компании
        • Москва
          • Назад
            • Москва
            • Алма-Ата
            • Астана
            • Великий Новгород
            • Владивосток
            • Воронеж
            • Дубна
            • Екатеринбург
            • Ижевск
            • Иркутск
            • Казань
            • Калининград
            • Краснодар
            • Красноярск
            • Минск
            • Нижний Новгород
            • Новосибирск
            • Омск
            • Пермь
            • Ростов-на-Дону
            • Самара
            • Санкт-Петербург
            • Саров
            • Тверь
            • Томск
            • Тюмень
            • Уфа
            • Челябинск
            • Черноголовка
        • Ru
          • Назад
          • Язык
          • Ru
          • En
        • 8 (800) 551-20-97Москва
          • Назад
          • Телефоны
          • 8 (800) 551-20-97Москва
          • +7 (812) 407-10-47Санкт-Петербург
          • Заказать звонок
        Контактная информация
        Москва, ул. Шаболовка, д. 10,корп.1 помещ. 7/1 (м. Шаболовская)
        info@azimp.ru

        Количественное обнаружение минералов коррозии в углеродистой стали с помощью SWIR гиперспектральной визуализации

        Главная
        —
        Статьи
        —Количественное обнаружение минералов коррозии в углеродистой стали с помощью SWIR гиперспектральной визуализации
        31 мая 2023

        Перед прочтением данной статьи напоминаем Вам, что наши специалисты могут продемонстрировать Вам принцип работы лабораторного сканера Specim в нашем офисе по адресу: г. Москва, ул. Шаболовка, д. 10, корп. 1 (м. Шаболовка).

        В данном исследовании представлен новый метод обнаружения и количественной оценки продуктов атмосферной коррозии на углеродистой стали. Используя гиперспектральную визуализацию (HSI) в коротковолновом инфракрасном диапазоне (SWIR) (900-1700 нм), мы можем идентифицировать наиболее распространенные минералы коррозии, такие как: a-FeO(OH) (гетит), g-FeO(OH) (лепидокроцит) и g-Fe O23 (маггемит). Шесть образцов углеродистой стали были подвергнуты искусственной коррозии в камере соляного тумана, каждый образец с различной продолжительностью (от 1 ч до 120 ч). Эти образцы были проанализированы методом сканирующей рентгеновской дифракции (XRD), а также с помощью системы SWIR HSI. Данные рентгеновской дифракции используются в качестве исходных данных. Алгоритм регрессии случайного леса используется для обучения на комбинированном наборе данных XRD и HSI. Используя обученную модель, мы можем предсказать карту изобилия на основе одних только изображений HSI. Несколько показателей корреляции изображений используются для оценки сходства между оригинальными изображениями XRD и изображениями HSI. Также рассчитывается и сравнивается общее изобилие для изображений XRD и HSI. Результаты анализа показывают, что нам удается получить визуально похожие изображения, с коэффициентами ошибок от 3.27 до 13.37%. Это говорит о том, что гиперспектральная визуализация может стать эффективным инструментом для изучения коррозионных минералов.

        1 Введение

        Точное и эффективное обнаружение коррозии имеет решающее значение для поддержания прочности металлических конструкций и снижения стоимости цикла промышленной инфраструктуры. Человеко-часы, потраченные на выявление проблемы, а затем на ее устранение путем капитального ремонта или замены критически важных деталей, составляют значительную часть стоимости жизненного цикла всех платформ и инфраструктуры. Поэтому раннее обнаружение проблем коррозии снижает общую стоимость. Существует несколько подходов к исследованию атмосферной коррозии в образцах из углеродистой стали, которые можно разделить на две основные категории: обнаружение коррозии на основе изменений материала и обнаружение коррозии на основе определения характеристик продуктов коррозии. Обзор этих методов приведен на рис. 1.

        Рисунок 1 – Обзор широко используемых методов обнаружения коррозии

        Что касается первой категории, то методы можно разделить на две подкатегории: методы физических измерений, которые оценивают повреждения, вызванные коррозией, и электрохимические методы, которые оценивают химические изменения, вызванные процессом коррозии. Проверенные методы физических измерений включают в себя боны, электрическое сопротивление (ER), ультразвуковой контроль (UT) и акустическую эмиссию (AE). Эти методы непосредственно измеряют различными способами повреждения, вызванные процессом коррозии исследуемой конструкции или образца. В целом, эти методы измерения позволяют предсказать скорость коррозии в мм в год для данного места. Затем этот анализ может быть экстраполирован на всю конструкцию. При использовании ER, AE и UT обследование всей конструкции занимает много времени из-за ограниченной зоны обследования.

        Электрохимические методы измерения включают линейное поляризационное сопротивление (LPR), спектроскопию электрического сопротивления (EIS), электрохимический шум (EN) и метод сканирующего вибрирующего электрода (SVET). Эти методы измеряют изменения электрохимического сигнала в материале, вызванные процессом коррозии. Они хороши для определения общей скорости коррозии конструкции, но не подходят для локализации коррозии на более крупной конструкции.

        Другой подход к обнаружению коррозии заключается в определении, локализации и количественной оценке продуктов коррозии. Правильная идентификация и количественная оценка минералов коррозии была соотнесена со скоростью коррозии в нескольких исследовательских статьях. Индекс защитной способности (PAI) предложен в качестве метрики для оценки защитных свойств коррозионного слоя. В идентификации минералов также можно выделить две категории: химический анализ, с одной стороны, и оптическая визуализация, с другой. К распространенным методам химического анализа относятся инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье (FTIR), рамановская спектроскопия, рентгеновская дифракция (XRD), сканирующая электронная микроскопия (SEM), и атомно-силовая микроскопия (AFM). Предыдущие исследования показали, что каждый из этих методов способен идентифицировать различные коррозионные минералы, образующиеся при атмосферной коррозии, такие как a-FeO(OH) (гетит), g-FeO(OH) (лепидокрокит), g-Fe2O3 (маггемит). Это очень точные методы, которые хорошо подходят для лабораторных условий с небольшими образцами. Однако применение этих методов вне лаборатории опять же потребует много времени и будет практически недостижимым.

        Оптические методы измерения, с другой стороны, могут использовать большие массивы датчиков для измерения или получения изображений больших площадей. В качестве примера можно привести камеры со стандартным визуальным спектром (RGB), мультиспектральные камеры (MSI) и гиперспектральные камеры (HSI). Использование RGB-камер для исследования минералов, подвергшихся коррозии, является сложной задачей, поскольку все конкретные минералы имеют одинаковый красно-коричневый оттенок.

        Компромисс между оптической визуализацией и химическим обнаружением может быть найден в гиперспектральной и мультиспектральной визуализации. С помощью этих камер мы получаем больше спектральной информации (обычно 3-10 длин волн для мультиспектральных и более 10 длин волн для гиперспектральных изображений), чем при использовании RGB-камеры. Эти камеры могут работать в различных спектрах, от ультрафиолетового до длинноволнового инфракрасного. Гиперспектральная визуализация используется в различных областях: дистанционное зондирование, анализ продуктов питания, биомедицинские исследования, разделение отходов, сельское хозяйство. Что касается обнаружения коррозии с помощью ГСИ, исследования ограничены. Хэлфорд и др. использовали HSI для изучения коррозии на бронзовых статуях. Энтони и др. использовали HSI с прикрепленным зондом с пучком волокон для обнаружения коррозии на стальных образцах. Аль Кташ и др. предложили решение с использованием УФ HSI для определения характеристик оксидных слоев на меди.

        Предыдущее исследование тех же авторов было посвящено сравнению между FTIR-анализом и измерениями HSI. Однако данные FTIR были получены с использованием соскобленных продуктов коррозии, поэтому пространственная информация о том, где присутствуют продукты коррозии, не рассматривалась. Данная статья восполняет этот пробел. Мы не только получаем данные о количестве минералов в отдельных продуктах коррозии, но и собираем пространственную информацию, которую можно соотнести с результатами измерений HSI.

        2 Материалы и методы

        2.1 Подготовка пробы

        Образцы холоднокатаной углеродистой стали со следующими размерами: 150 × 50 × 1 мм (длина × ширина × толщина). Образцы имели качество DC01, как описано в DIN EN 10130: 2006. Затем поверхность была отшлифована наждачной бумагой с зернистостью 400, а затем 800. После шлифовки детали сначала промывались деминерализованной водой, а затем очищающим раствором изопропилового спирта. Одновременно образцы были помещены в камеру соляного тумана. Ускоренное испытание на коррозию проводилось в соответствии с DIN ISO 9227,26 при температуре камеры 35 °C и температуре распыления 45 °C. pH измерялся с интервалом в один день и оставался в пределах от 6.8 до 7.1. Каждый образец вынимался из камеры в разное время, общая продолжительность солевого тумана составила один час для первого образца и 120 часов для шестого образца. Длительность ускоренной коррозии для всех образцов приведена в таблице 1. На рис. 2 показаны различные образцы с четкой разницей в степени коррозии.

        Таблица 1 – Продолжительность (в часах) ускоренного испытания в соляном тумане для каждого образца

        Образец (№)

        1

        2

        3

        4

        5

        6

        Длительность (ч)

        1

        2

        24

        48

        72

        120

        Рисунок 2 – RGB-изображения образцов, подвергшихся искусственной коррозии

        2.2 Измерения методом рентгеноструктурного анализа

        Измерения MA-XRD проводились с помощью мобильного сканера собственной разработки (AXIS, Университет Антверпена, Бельгия). Прибор оснащен маломощным рентгеновским микроисточником (50 Вт, Im S-Cu, Incoatec GmbH, Германия), который производит монохроматический и сфокусированный рентгеновский пучок (Cu-Ka; 8,04 кэВ). Из-за геометрических ограничений был использован угол падения первичного пучка 10° по отношению к образцам из корродированной стали. Это привело к удлинению следа пучка в горизонтальном направлении до 0.8 мм в горизонтальном и 0.2 мм в вертикальном направлении. Для записи 2D дифракционных картин для каждого облучаемого положения использовался детектор PILATUS 200 K area detector. Чтобы уменьшить влияние локальной топографии стальных образцов на дифракционные данные, расстояние между изделием и сканером автоматически регулировалось с помощью лазерного датчика расстояния (Baumer GmbH, Германия) в каждой точке измерения. Все компоненты размещены на моторизованной платформе, способной перемещаться в направлениях XYZ (30 × 30 × 10 см3). Для обработки всех данных XRD использовался пакет программного обеспечения XRDUA собственной разработки. XRDUA предоставляет необходимые инструменты для извлечения распределений кристаллических особенностей из большого количества двумерных дифракционных картин, полученных в ходе экспериментов по визуализации XRPD.28 Схематический обзор установки представлен на рис. 3, а реальная установка - на рис. 4. Пространственное разрешение этой установки составляет 1.3 мм на пиксель.

        Рисунок 3 – Схематический обзор сканирующей рентгеноструктурной установки. С (1) источником рентгеновского излучения и оптикой, (2) детектором XRD, (3) лазером и (4) моторизованной платформой

        Рисунок 4 – Сканирующая рентгеноструктурная установка

        2.3 Измерения HSI

        Гиперспектральные изображения были получены с помощью коротковолновой системы гиперспектральной визуализации push-broom. Изображение установки показано на рис. 5. Установка состоит из моторизованного столика (лабораторный сканер SPECIM), который перемещает образец, в то время как камера удерживается на месте. Во время процесса сканирования образцы освещаются 6 галогенными лампами мощностью 25 Вт. Камера (SPECIM FX17) снимает 224 полосы для каждого из 640 пикселей в диапазоне 900-1700 нм. Объектив, используемый для измерений, имеет FOV 12° и диафрагму F/1.7. Расстояние между объективом и образцами составляло 200 мм, в результате чего пространственное разрешение составляло 0.17 мм на пиксель. Спектральный биннинг не применялся, что дает FWHM (полную ширину на половине высоты) 8 нм. Для преобразования измеренных значений в значение отражательной способности была проведена калибровка с использованием темного и белого эталона. Темный эталон был получен путем закрытия затвора и усреднения по 100 полученным изображениям. Для белого эталона была взята плитка Spectralon с отражательной способностью 99% и также усреднена по 100 изображениям. Затем отсканированное изображение корректировалось для каждой длины волны с помощью уравнения (1)

        где Icorr - скорректированное изображение, Sr - отражательная способность спектральной плитки, Io - некалиброванное изображение, Dref - усредненный темный эталон и Wref - белый эталон. Одновременное управление столиком и камерой осуществлялось с помощью программного обеспечения Specim Labscanner. Для сканирования всех образцов использовалась частота кадров камеры 50 Гц и скорость сканирования 6.26 мм·с-1. Для сканирования всего образца потребовалось около 25 секунд. Постобработка и калибровка белого были выполнены в Python.

        К калиброванным гиперспектральным изображениям применяется несколько этапов постобработки. Поскольку первая и последняя полосы имеют высокое отношение шум/данные из-за более низкой квантовой эффективности на этих длинах волн, эти полосы (первые и последние 5 полос) удаляются из спектров. К каждому спектру также применяется фильтр Савицкого-Голая для сглаживания спектров и удаления нежелательных неоднородностей, которые могут повлиять на точность классификации. На последнем этапе спектры нормируются между 0 и 1, чтобы устранить разницу в масштабе, которая может повлиять на алгоритмы машинного обучения.

        Рисунок 5 – Камера Specim FX17 и лабораторный сканер Specim

        2.4 FTIR измерения

        Для сбора спектров для каждого образца используется макроскопический отражательный FTIR (MA-rFTIR). Прибор состоит из портативного FTIR спектрометра Bruker Alpha, установленного на поворотном столике. Это позволяет проводить точечное сканирование больших двумерных поверхностей. Спектральное разрешение составляет 4 см-1, а спектральный диапазон простирается от 375-7500 4 см-1. Пространственное разрешение сохраняется таким же, как и у XRD, поэтому интерполяция спектров не требуется. Спектры сглаживаются с помощью фильтра Савицкого-Голая с размером окна 25 и полиномиальной подгонкой третьей степени. Постобработка спектров была выполнена с помощью программного обеспечения Spectragryph.

        2.5 Анализ данных

        Пространственное разрешение измерений XRD (1.3 мм на пиксель) и измерений HSI (0.17 мм на пиксель) не одинаково, поэтому для выравнивания этих данных необходимо предпринять несколько шагов. Методика выравнивания двух наборов данных показана на рис. 6, а более подробно эти шаги описаны в следующем параграфе. Важно отметить, что эти шаги повторяются для каждого минерала, т.е. каждый минерал обрабатывается и оценивается отдельно.

        Рисунок 6 – Блок-схема шагов по сравнению измерений методом рентгенографии и HSI. Это делается для каждого исследуемого минерала. С m и n в качестве горизонтального и n - горизонтальный размер, s - количество образцов, b - количество спектральных полос.

        2.5.1 XRD

        Для каждого образца данные о содержании минералов загружаются в двумерную матрицу и используются в качестве опорных значений. Все образцы объединяются в трехмерную матрицу (mxnxs), где m и n - количество пикселей в x- и y-направлении, соответственно, а s - количество образцов.

        Данные HSI подвергаются нескольким этапам предварительной обработки, таким как калибровка, удаление зашумленных областей и сглаживание, как упоминалось в разделе 2.3. После этих шагов размер куба данных HSI подгоняется под размер изображения XRD. Для уменьшения размера изображений используется метод бикубической интерполяции. Затем уменьшенные кубы данных объединяются в четырехмерную матрицу (mxnxsxb), где b - количество спектральных полос. Следующим шагом является объединение и сглаживание кубов данных XRD и HSI. Для обоих кубов данных первые три измерения транспонируются в вектор размера (mxnxs). В итоге мы получаем вектор Y, содержащий данные XRD, и двумерную матрицу для гиперспектральных данных. Таким образом, для каждого гиперспектрального пикселя (спектра) существует соответствующее значение обилия, измеренное рентгеновским спектром для данного конкретного минерала. Это сглаживание необходимо для использования алгоритма машинного обучения. Полученный набор данных делится на обучающую и тестовую части в соотношении 30/70. Небольшой набор данных для обучения выбран намеренно, чтобы предотвратить перебор модели.

        На этих данных обучается регрессия случайного леса. Этот алгоритм использует несколько параллельных древ решений, результаты которых усредняются для достижения более высокой общей точности предсказания. Для создания каждого древа решений используется случайное подмножество набора данных. Методы усреднения или ансамбля обычно используются в машинном обучении для достижения более высокой точности по сравнению с методами без ансамбля. Как и в большинстве алгоритмов машинного обучения, существует ряд гиперпараметров, которые могут быть определены и точно настроены. Для определения наиболее удачного набора гиперпараметров для модели используется алгоритм оптимизации параметров. Для расчета средней точности модели используется пятикратная перекрестная валидация.

        После настройки алгоритма можно использовать лучшие параметры для прогнозирования карты изобилия на основе тестового набора данных. Подмножество набора данных, на котором обучалась модель, не опускается при расчете корреляционных метрик. Более подробно используемые корреляционные метрики описаны в следующем разделе. Все расчеты проводились на компьютере под управлением Windows 10 с процессором Intel Core i7-9750H с 12 ядрами и частотой 2.6 ГГц, 32 ГБ оперативной памяти и видеокартой Nvidia GTX 1650. Для реализации этих алгоритмов использовался пакет sci-kit learn из Python с открытым исходным кодом.

        2.6 Корреляционные метрики

        Четыре различных корреляционных метрики используются для оценки предсказанных изображений HSI с измерениями XRD. Использование различных корреляционных метрик необходимо, поскольку каждая из них по-разному оценивает сходство. В данной статье используются следующие метрики: R2, RMSE, SSID и SRE. Первые две можно отнести к статистическим мерам, в то время как последние две больше подходят для поиска визуальных или признаковых корреляций между изображениями.

        Коэффициент корреляции или R2 измеряет корреляцию между значениями пикселей изображения XRD и изображения HSI.

        Среднеквадратичная ошибка (RMSE) – это мера разницы в значениях на уровне пикселей между двумя изображениями. RMSE является часто используемой метрикой сравнения сходства, однако, когда значения немного смещены, это сильно влияет на значение RMSE. Хотя в целом изображение все равно будет иметь схожий вид. RMSE рассчитывается с помощью уравнения (2)

        где N - общее количество пикселей, I - изображение XRD, а K - изображение HSI.

        Измерение индекса структурного сходства (SSIM) сосредоточено на перцептивной разнице между изображениями. Этот алгоритм традиционно используется для оценки качества изображения после применения сжатия. SSIM рассчитывается с помощью уравнения (3). На выходе получается значение от -1 до 1, причем 1 означает полную идентичность изображения.

        При этом µx - среднее значение x, µy - среднее значение y, σx2 - дисперсия x, σy2 - дисперсия y, σxy - ковариация x и y, c1 = (k1L)2, c2 = (k2L)2 - две переменные для стабилизации деления со слабым знаменателем, L - динамический диапазон значений пикселей (обычно это 2#бит на пиксель - 1, k1 = 0.01 и k2 = 0.03 по умолчанию.

        Отношение ошибки сигнала к ошибке реконструкции (SRE) измеряет ошибку относительно мощности сигнала. Авторы показывают, что использование SRE лучше подходит для того, чтобы сделать ошибки сравнимыми между изображениями разной яркости. SRE выражается в децибелах (дБ) и рассчитывается с помощью уравнения (4).

        При этом x - карта обилия XRD, y - предсказанная карта обилия HSI, µx - среднее значение x и n - количество пикселей в карте обилия XRD или HSI.

        3 Результаты

        3.1 FTIR-анализ

        Для подтверждения результатов XRD-анализа используется FTIR для оценки минералов, присутствующих в образце. Образец шесть был измерен с помощью FTIR сканера для получения пространственной и спектральной информации. На рис. 7 показаны спектры из четырех различных мест. Эти места обозначены кружками на RGB-изображении на рис. 8. Анализ XRD показал, что самая высокая концентрация для каждой из категорий была измерена в этих четырех местах. Различные спектры показывают, что при высоком содержании определенного минерала отчетливые спектральные особенности обнаруживаются и в FTIR спектрах. Измерения XRD для позиции 1 показывают обилие 73.44% лепидокрокита, что подтверждается выраженными спектральными особенностями при 1023-750 см-1. Также в этой позиции присутствует 22.54% гетита, который так же виден в спектре с пиками в диапазоне 790-900 см-1. Для позиции 2 измерения XRD указывают на присутствие 54.22% гетита и 24.43% лепидокрокита. Глядя на FTIR спектры, видно, что присутствуют спектры как гетита, так и лепидокроцита. По сравнению с позицией 1, признаки гетита более выражены, что указывает на более высокую концентрацию гетита. Позиция 3, как и ожидалось, не имеет значительных особенностей, соответствующих спектрам коррозии, и идентифицируется как железо в анализе XRD. Позиция 4 имеет широкую особенность в диапазоне 620-660 см-1, указывающую на присутствие маггемита. Измерения XRD показывают, что маггемит действительно является наиболее распространенным минерал в этой позиции.

        Рисунок 7 – Спектры отражения FTIR для четырех различных позиций в образце шесть. Вертикальные линии обозначают отличительные признаки, описанные в литературе для каждого минерала. (G = гетит, M = маггемит, L = лепидокрокит).

        Рисунок 8 – RGB-изображение шестого образца. Зеленые круги указывают на место измерения FTIR.

        3.2 Визуальное сравнение

        Сравнение измеренных XRD-карт обилия и предсказанных карт обилия по результатам измерений HSI для образца шесть представлено на рис. 9. Из этого сравнения видно, что с визуальной точки зрения они выглядят довольно похоже. Общая интенсивность изображений одинакова, и они также имеют одинаковые особенности (светлые и темные пятна). При ближайшем рассмотрении видно, что есть некоторые различия в расположении вышеупомянутых особенностей. Например, пятно железа в нижней левой области явно имеет размер 4 пикселя, в то время как предсказание от HIS предсказывает только 2 пикселя как большую концентрацию железа. Это, очевидно, оказывает очень большое влияние на метрики сравнения, а также на общую ошибку между XRD и HSI по площади изобилия. Из сравнения видно, что двумя наиболее важными коррозионными минералами являются лепидокроцит и гетит, а также меньшей концентрации также маггемит, в то время как присутствие железа практически незначительно.

        Рисунок 9 – Боковое сравнение индивидуальных карт обилия XRD и предсказанных карт обилия, рассчитанных алгоритмом машинного обучения (регрессор случайного леса) для шестого образца. Зеленые кружки представляют места с наибольшим содержанием данного конкретного минерала. FTIR спектры этих мест показаны на Рис. 7.

        3.3 Аналитическое сравнение

        Результаты сравнения HSI и XRD показаны в таблице 2. Для образца 1 по результатам измерений XRD обнаружено только железо. Однако RGB-изображения на рис. 2 показывают, что коррозия присутствует, но это очень ранняя стадия коррозии (после одного часа). Сигналы железа присутствуют в большом количестве на полученной дифрактограмме, что делает невозможным отличить эту раннюю стадию коррозии от фона с помощью XRD. Поэтому образец 1 не включен в обзорную таблицу. Для каждого образца и минерала были рассчитаны значения R2, RMSE, SSIM и SRE. При рассмотрении корреляционного значения R2 в таблице 2 заметно, что существуют большие различия между разными минералами и образцами. В частности, значения R2 для железа удивительно низкие. Это может быть объясняется небольшим количеством данных о содержании железа, доступных для этого образца. Другим возможным источником ошибки является то, что железо трудно предсказать из-за разницы в глубине отбора проб разными методами. Железо будет слоем, который находится на самой большой глубине зондирования. Таким образом, его обилие зависит от коррозионных слоев сверху.

        Таблица 2 Результаты прогнозирования карт гиперспектрального изобилия, оцененные с помощью четырех различных корреляционных метрик. Значения, выделенные жирным шрифтом, показывают аномальные значения и свидетельствуют о плохой работе регрессионного анализа. В последнем столбце отрицательные проценты указывают на недооценку общего обилия, в то время как положительные значения демонстрируют переоценку.

        Алгоритм случайного леса

        Общая численность

        R2

        RMSE

        SRE

        SSIM

        Численность XRD (%)

        Различие между XRD и HSI (%)

        Образец 1

        Железо

        0.74

        0.07

        43.68

        0.81

        100

        -25.23

        Лепидокроцит

        –

        –

        –

        –

        –

        –

        Гетит

        –

        –

        –

        –

        –

        –

        Маггемит

        –

        –

        –

        –

        –

        –

        Образец 2

        Железо

        0.54

        0.05

        44.95

        0.83

        66.26

        1.97

        Лепидокроцит

        0.62

        0.07

        51.18

        0.83

        33.74

        -1.25

        Гетит

        –

        –

        –

        –

        –

        –

        Маггемит

        –

        –

        –

        –

        –

        –

        Образец 3

        Железо

        0.13

        0.10

        31.72

        0.73

        12.32

        -3.27

        Лепидокроцит

        0.55

        0.06

        44.31

        0.83

        40.67

        4.79

        Гетит

        0.62

        0.08

        44.19

        0.87

        31.45

        1.21

        Маггемит

        0.57

        0.05

        40.41

        0.82

        15.56

        -10.80

        Образец 4

        Железо

        -1.1

        0.14

        26.45

        0.73

        5.21

        -3.85

        Лепидокроцит

        0.41

        0.09

        44.91

        0.80

        49.26

        -0.19

        Гетит

        0.53

        0.08

        43.20

        0.83

        32.43

        0.40

        Маггемит

        0.36

        0.09

        31.85

        0.73

        13.10

        3.28

        Образец 5

        Железо

        0.29

        0.09

        24.30

        0.87

        2.39

        13.37

        Лепидокроцит

        0.67

        0.06

        39.92

        0.88

        31.59

        -2.70

        Гетит

        0.70

        0.08

        42.20

        0.89

        35.73

        0.19

        Маггемит

        0.67

        0.05

        39.97

        0.89

        30.28

        1.72

        Образец 6

        Железо

        0.59

        0.08

        32.05

        0.89

        2.35

        13.86

        Лепидокроцит

        0.69

        0.06

        45.04

        0.91

        32.82

        -0.63

        Гетит

        0.72

        0.05

        42.28

        0.88

        34.80

        -1.25

        Маггемит

        0.69

        0.07

        35.59

        0.89

        30.03

        5.41

        На рис. 10, показаны значения обилия для XRD (ось y) и HSI (ось x). Заметно, что категория железа в основном расположена в левом нижнем углу и достаточно распределена, что оказывает большое влияние на метрику R2. При расчете метрики RMSE используются нормированные значения от 0 до 1. Это объясняет общие небольшие значения. Наибольшие значения наблюдаются на картах обилия железа, что объясняется ограниченной дисперсией точек данных для железа. Эта метрика не наказывает отдельные кластеры, которые неправильно классифицированы, поскольку редкие крупные ошибки компенсируются частыми мелкими ошибками. Это подчеркивает недостаток использования RMSE для данного типа корреляционной метрики. При рассмотрении оценок SRE различия больше по сравнению с RMSE. SRE корректирует сдвиг в интенсивности, таким образом, эффект посредничества больших оценок нивелируется. Оценка SRE показывает, что железо снова трудно предсказать, о чем свидетельствует тот факт, что оно постоянно получает самые низкие оценки. При сравнении трех минералов, вызывающих коррозию, маггемит имеет самый низкий, хотя и приемлемый балл. Наконец, метрика SSIM показывает, что различия очень малы при рассмотрении основных характеристик на картине. Этот вывод также можно сделать, взглянув на сравнительное изображение на рис. 9, где основные черты одинаковы между изображениями XRD и HSI.

        Рисунок 10 – Корреляционная диаграмма между значениями обилия, полученными в результате XRD измерениями и предсказанными измерениями HSI.

        3.4 Сравнение общей численности

        Помимо визуального сравнения прогнозов с истинными значениями XRD, можно также выразить обилие каждого минерала в процентах от общего обилие. Это значение показывает, сколько минералов в образце идентифицировано с помощью XRD. Мы можем сравнить эти значения общего изобилия, полученные с помощью рентгеноструктурных измерений, со значениями общего изобилия на изображениях, предсказанных с помощью HSI, и вычислить процентную ошибку между ними. Эти значения представлены в последних двух колонках таблицы 2.

        Как видно из таблицы, количество железа неуклонно уменьшается, в то время как общее количество минералов коррозии увеличивается. Порядок образования этих минералов (лепидокрокит / гетит / маггемит) показан в литературе, и этот порядок также очевиден из измерений XRD и HSI. Как упоминалось ранее, измерения XRD для первого образца содержали только железо. Других минералов обнаружено не было. Очень ранняя стадия коррозии не была обнаружена с помощью XRD, что объясняет очень большую ошибку между XRD и HSI.

        Следует отметить, что если обилие XRD велико, то разница между XRD и HSI будет меньше. Единственным исключением является маггемит в третьем образце с разницей между XRD и HSI в 10.8% при общем обилии XRD в 15.56%. Возможное объяснение больших ошибок для железа и маггемита заключается в том, что эти категории не имеют четко выраженных спектральные особенности в SWIR диапазоне. Это делает очень трудным различить эти две категории. Когда общее XRD больше 20%, мы видим, что общие различия между XRD и HSI невелики и составляют от -2.7 до 5.41%. Эти низкие показатели погрешности показывают, что HSI может быть точной заменой для обнаружения соединений железа в коррозионных образцах.

        4 Выводы

        В данном исследовании было оценено использование гиперспектральной визуализации для количественного определения минералов коррозии в образцах углеродистой стали. Используя данные измерений сканирующей рентгенографии, возможно создать модель машинного обучения на основе гиперспектральных измерений. Результаты показывают, что эта модель способна обеспечить хорошую корреляцию между предсказанными гиперспектральными картами обилия и данными рентгеноструктурных измерений для каждого из минералов коррозии. Самое большое расхождение между XRD и HSI заключается в том, что XRD не в состоянии определить очень раннюю стадию коррозии. В первом образце, после одного часа непрерывного солевого тумана, мы визуально видим, что имеется большой очаг коррозии, и это также очевидно в гиперспектральных прогнозах.

        Это исследование было ограничено отсутствием длинной стадии многослойной атмосферной коррозии. Когда процесс коррозии становится более зрелым, возникает многослойная коррозионная структура. Эта многослойная структура коррозии не была учтена в данном исследовании, и возможно, что эффективность предложенного метода гиперспектральной визуализации снизится при измерении минеральных составов подповерхностной коррозии. Несмотря на эти ограничения, результаты исследования позволяют предположить, что гиперспектральная съемка может быть использована для количественной оценки ранней стадии атмосферной коррозии углеродистой стали. Учитывая большую площадь сканирования гиперспектральной камеры, простоту использования и портативность, ее можно использовать в нелабораторных условиях. Можно провести дополнительные исследования с использованием более продвинутых методов искусственного интеллекта такие как архитектуры глубокого обучения, однако эти методы обычно требуют большего количества данных, чтобы обеспечить преимущество перед более традиционными методов машинного обучения, которые были реализованы в данной статье.

        Связанные продукты
        Назад к списку
        Каталог
        Каталог THORLABS
        Каталог Hamamatsu
        Каталог Edmund Optics
        Поставщики
        Компания
        Вакансии
        Проекты
        Контакты
        Полезное
        Статьи
        Новости
        Видео
        Выставки
        Условия сотрудничества
        Правила пользования сайтом
        Карта сайта
        Подписаться на рассылку
        8 (800) 551-20-97
        8 (800) 551-20-97Москва
        +7 (812) 407-10-47Санкт-Петербург
        Заказать звонок
        info@azimp.ru
        Москва, ул. Шаболовка, д. 10,корп.1 помещ. 7/1 (м. Шаболовская)
        2025 © АЗИМУТ ФОТОНИКС