Официальный дистрибьютор продукции компании THORLABS
Оптомеханика

Задать вопрос

Ваше имя *:
Организация :
Телефон :
Ваш вопрос *:

* — Поля, обязательные для заполнения

Примечания:
  • скидка предоставляется при предъявлении действительного счета, выставленного не ранее чем за 3 дня до обращения;
  • во избежание представления ложных счетов конкурентов мы оставляем за собой право ограничить максимальную скидку, если счет конкурента будет признан нерентабельным;
  • в случае поставки крупногабаритного и/или тяжеловесного товара, решение о предоставлении скидки, может быть принято только после расчета логистических расходов.

Каталог продукции

Отправить запрос

Ваше имя *:
Телефон :
Ваш вопрос *:

* — Поля, обязательные для заполнения

Мой профиль

Логин
Пароль

Системы позиционирования объективов / фокусирующей оптики

Системы позиционирования объективов / фокусирующей оптики

Отправить запрос по

Системы позиционирования объективов / фокусирующей оптики

Ваше имя *:
Телефон :
Ваш вопрос *:

* — Поля, обязательные для заполнения

Отложить продукт

Системы позиционирования объективов / фокусирующей оптики

Комментарии к товару

Компания Piezosystem Jena предлагает системы позиционирования серии MIPOS на базе пьезоприводов для высокоточного позиционирования объективов микроскопов вдоль оси Z. Данные позиционеры отлично подходят для задач однофотонной микроскопии, конфокальной микроскопии и лазерной сканирующей микроскопии, а также, в целом, для всех типов микроскопии высокого разрешения.

Разрешение представленных систем достигает субнанометрого масштаба. Системы на базе пьезоприводов мгновенно реагируют на изменение управляющего сигнала, что обеспечивает высокую скорость и динамическую производительность позиционера.

Системы позиционирования серии MIPOS широко используют для усовершенствования микроскопов. Используя резьбовые адаптеры, позиционеры MIPOS можно встраивать во все стандартные модели микроскопов Zeiss, Leica, Nikon, Olympus и т. д. независимо от того прямые они или инверсионные.

Все системы позиционирования серии MIPOS Piezosystem Jena могут быть оснащены встроенной системой обратной связи для контроля положения объектива и увеличения точности.

Системы позиционирования MIPOS Piezosystem Jena доступны для заказа с резьбами: W0.8x1/36" (RMS), M25x0.75, M26x0.75, M26x1/36" (Mitutoyo), M27x0.75 и M32x0.75.

Системы позиционирования объективов / фокусирующей оптики

MIPOS 20

Свойства:

- Диапазон перемещений: 20 мкм;

- Макс. диаметр объектива: 30 мм;

- Макс. вес объектива: 300 г;

- Модели для инверсионных микроскопов.

MIPOS 100

Свойства:

- Диапазон перемещений: 100 мкм;

- Макс. диаметр объектива: 30 мм;

- Макс. вес объектива: 300 г;

- Модели для инверсионных микроскопов.

MIPOS 100 PL

Свойства:

- Диапазон перемещений: 140 мкм;

- Макс. диаметр объектива: 40 мм;

- Макс. вес объектива: 500 г;

- Модели с предварительным натягом;

- Модели для инверсионных микроскопов.

MIPOS 250

Свойства:

- Диапазон перемещений: 250 мкм;

- Макс. диаметр объектива: 40 мм;

- Макс. вес объектива: 500 г;

- Модели для инверсионных микроскопов.

MIPOS 500

Свойства:

- Диапазон перемещений: 500 мкм;

- Макс. диаметр объектива: 40 мм;

- Макс. вес объектива: 500 г;

- Модели для инверсионных микроскопов.

nanoMIPOS 400

Свойства:

- Диапазон перемещений: 400 мкм;

- Макс. диаметр объектива: 40 мм;

- Макс. вес объектива: 1 кг;

- Модели для инверсионных микроскопов.

MIPOS 600 SG OEM

Свойства:

- Диапазон перемещений: 600 мкм;

- Макс. диаметр объектива: 40 мм;

- Макс. вес объектива: 500 г;

- Модели для инверсионных микроскопов.

MIPOS LFA

Свойства:

- Диапазон перемещений: 500 мкм;

- Адаптер для быстрой смены объективов;

- Тип резьбы: W0.8x1/36" - M 27x0.75;

- Модели для инверсионных микроскопов.

MIPOS R 120

Свойства:

- Система позиционирования револьвера микроскопа;

- Диапазон перемещений: 150 мкм;

- Макс. нагрузка: 3 кг;

- Модели для инверсионных микроскопов.

MIPOS 16-158

Свойства:

- Для объективов: 4” и 6”;

- Диапазон перемещений: 16 мкм;

- Макс. нагрузка: 3 кг;

- Апертура: 104 мм;

- Подходит для задач интерферометрии.